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NI成功主辦第九屆 “中國(guó)PXI技術(shù)和應(yīng)用論壇”

- 由美國(guó)國(guó)家儀器有限公司(National Instruments,簡(jiǎn)稱(chēng)NI)主辦的第九屆“中國(guó)PXI技術(shù)和應(yīng)用論壇” (PXI Technology & Application Conference,即PXI TAC)于2012年5月29日在上海國(guó)際會(huì)議中心成功召開(kāi),超過(guò)500名工程師和技術(shù)人員到場(chǎng)參加。共有12家國(guó)內(nèi)外知名PXI供應(yīng)商和系統(tǒng)集成商, 10家行業(yè)內(nèi)的知名媒體參加,是歷屆之最。
- 關(guān)鍵字: NI PXI
NI攜手RIGOL和北京信息科技大學(xué)共同開(kāi)發(fā)電路實(shí)驗(yàn)教程

- 近日,在北京信息科技大學(xué),美國(guó)國(guó)家儀器公司(National Instruments, 簡(jiǎn)稱(chēng)NI)與北京普源精電科技有限公司(簡(jiǎn)稱(chēng)RIGOL)一起對(duì)外發(fā)布其全新開(kāi)發(fā)的電子電路實(shí)驗(yàn)教程。北信科大電子信息與控制國(guó)家級(jí)實(shí)驗(yàn)教學(xué)示范中心常務(wù)副主任高晶敏、RIGOL副總裁兼市場(chǎng)部總經(jīng)理邢飛、NI中國(guó)市場(chǎng)部經(jīng)理徐赟出席了該發(fā)布會(huì)。并分別就校企合作、課件開(kāi)發(fā)的相關(guān)情況和內(nèi)容做了闡述。之后三方共同為此課程揭牌,標(biāo)志著此課程正式投入使用。
- 關(guān)鍵字: NI RIGOL 虛擬儀器
NI發(fā)布全新PXI機(jī)箱拓展領(lǐng)先地位

- 新聞要點(diǎn) The NI PXIe-1066DC機(jī)箱基于PXI出眾的系統(tǒng)生命周期和靈活性,是已部署、嚴(yán)格任務(wù)級(jí)應(yīng)用的理想選擇。 在全新的機(jī)箱中,NI為PXI平臺(tái)系列增加了冗余、熱插拔和前端接入功能,顯著增加了系統(tǒng)的正常運(yùn)行時(shí)間。
- 關(guān)鍵字: NI 測(cè)試 PXI PXIe-1066DC
NI拜訪國(guó)家能源智能電網(wǎng)(上海)研發(fā)中心

- 美國(guó)國(guó)家儀器公司(National Instruments, 簡(jiǎn)稱(chēng)NI)副總裁Owen Golden和全球能源部技術(shù)經(jīng)理Roberto Piacentini于近期拜訪了位于上海交通大學(xué)的國(guó)家能源智能電網(wǎng)(上海)研發(fā)中心,與嚴(yán)正、唐厚君、李國(guó)杰等教授和馮冬涵副教授就智能電網(wǎng)中心的前沿研究領(lǐng)域,以及NI從事于相關(guān)領(lǐng)域的研發(fā)方向、雙方的合作空間進(jìn)行了探討。
- 關(guān)鍵字: NI 智能電網(wǎng)
NI發(fā)布全新SC Express PXI傳感器測(cè)量RTD模塊

- 電阻溫度探測(cè)器(RTD)模塊進(jìn)一步擴(kuò)展了測(cè)量性能,能夠提供更高的溫度精度。 工程師可使用NI SC Express 產(chǎn)品家族中的NI PXIe-4357 RTD模塊,PXI以及LabVIEW實(shí)時(shí)模塊來(lái)創(chuàng)建穩(wěn)定的傳感器測(cè)量系統(tǒng),其通道數(shù)可從十?dāng)U展至數(shù)千 SC Express將數(shù)據(jù)采集與信號(hào)調(diào)理集成在一個(gè)PXI模塊中,從而實(shí)現(xiàn)高性能、穩(wěn)定的傳感器測(cè)量,以及速度和精度的優(yōu)化
- 關(guān)鍵字: NI 測(cè)量 SC Express
基于NI PXI平臺(tái)的電子戰(zhàn)模擬系統(tǒng)開(kāi)發(fā)
- 挑戰(zhàn): 使用最新的商業(yè)現(xiàn)成技術(shù),設(shè)計(jì)和部署靈活、可擴(kuò)展的模塊化電子戰(zhàn)模擬系統(tǒng)?! 〗鉀Q方案: 使 ...
- 關(guān)鍵字: NI PXI 電子戰(zhàn) 模擬系統(tǒng)
NI 發(fā)布《2012年自動(dòng)化測(cè)試趨勢(shì)展望》

- 新聞要點(diǎn) · 該趨勢(shì)展望報(bào)告探討了影響當(dāng)前和未來(lái)的電子行業(yè)的最新商業(yè)策略、架構(gòu)、計(jì)算、軟件和I/O。 · 經(jīng)過(guò)多年的自動(dòng)化測(cè)試,NI從其商業(yè)關(guān)系、內(nèi)部專(zhuān)業(yè)知識(shí)和第三方研究中吸取經(jīng)驗(yàn),并提出了行業(yè)內(nèi)最新、最為全面的見(jiàn)解。 · 報(bào)告中著重介紹了新興的移動(dòng)設(shè)備如何改變行業(yè)架構(gòu),公司機(jī)構(gòu)如何通過(guò)建立測(cè)試組織來(lái)奠定各自的戰(zhàn)略優(yōu)勢(shì)。
- 關(guān)鍵字: NI 自動(dòng)化測(cè)試
美國(guó)國(guó)家儀器加入TD技術(shù)論壇
- 為了加速虛擬儀器技術(shù)在移動(dòng)通信測(cè)試領(lǐng)域的本地化推進(jìn), NI中國(guó)于2012年4月加入TD技術(shù)論壇。 自從1998年,NI 在上海成立了海外第一個(gè)研發(fā)中心,NI 中國(guó)初見(jiàn)雛形以來(lái), NI一直非常注重中國(guó)本地化的發(fā)展, 并且積極參與本地行業(yè)組織與協(xié)會(huì)的合作。 特別是在移動(dòng)通信領(lǐng)域, NI一直不斷投入研發(fā)資源以支持最新的協(xié)議與標(biāo)準(zhǔn), 包括TD-LTE。
- 關(guān)鍵字: NI TD-LTE
美國(guó)國(guó)家儀器發(fā)布3U PXI Express嵌入式控制器
- 美國(guó)國(guó)家儀器公司(National Instruments, 簡(jiǎn)稱(chēng)NI)近日發(fā)布了NI PXIe-8115高性能嵌入式控制器,配備了最新的Intel?第二代 Core? i5雙核處理器,能夠縮短測(cè)試時(shí)間,是多核應(yīng)用程序的理想選擇。 NI PXIe-8115控制器具有多種外設(shè)I / O端口以及6個(gè)行業(yè)領(lǐng)先的USB 2.0端口。 這些板載外設(shè)端口最大限度地減少了外部適配器的個(gè)數(shù),幫助工程師搭建符合成本效益的混合系統(tǒng)。 NI PXIe-8115嵌入式控制器的In-ROM和硬盤(pán)驅(qū)動(dòng)診斷功能能夠判定控制器的健康狀況
- 關(guān)鍵字: NI LabVIEW PXIe-8115
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