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常用的單片機系統(tǒng)RAM測試方法
- 在各種單片機應用系統(tǒng)中,存儲器的正常與否直接關(guān)系到該系統(tǒng)的正常工作。為了提高系統(tǒng)的可靠性,對系統(tǒng)的可靠性進行測試是十分必要的。通過測試可以有效地發(fā)現(xiàn)并解決因存儲器發(fā)生故障對系統(tǒng)帶來的破壞問題。本文針對
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單片機系統(tǒng)中RAM的測試方法研究
- 在各種單片機應用系統(tǒng)中,存儲器的正常與否直接關(guān)系到該系統(tǒng)的正常工作。為了提高系統(tǒng)的可靠性,對系統(tǒng)的可靠性 ...
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法拉電容在RAM數(shù)據(jù)保護中的應用
- 法拉電容也叫超級電容器,雙電層電容,其體積小、容量大、電壓記憶特性好、可靠性高。與充電電池相比,具有充電時間短、功率密度高、使用壽命長、低溫特性好及無環(huán)境污染等優(yōu)勢[2]。在數(shù)據(jù)保護電路中采用法拉電容取代
- 關(guān)鍵字: 應用 保護 數(shù)據(jù) RAM 電容
Ramtron出貨首批使用新IBM制造的F-RAM樣片
- Ramtron International Corporation(簡稱Ramtron)宣布,現(xiàn)在已經(jīng)可廣泛提供在新IBM公司生產(chǎn)線上制造的首批預驗證鐵電存儲器(F-RAM)樣片。FM24C04C和FM24C16C是位密度分別為4kbit和16kbit的串行5V F-RAM產(chǎn)品,這些器件可為電子系統(tǒng)提供高性能非易失性數(shù)據(jù)采集和儲存解決方案。Ramtron的F-RAM產(chǎn)品具有非易失性RAM存儲性能、無延遲(NoDelay?)寫入、高讀/寫耐用性及低功耗特性。
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