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SOC的可測試性設(shè)計(jì)策略

  • 1引言可測試設(shè)計(jì)(DFT)是適應(yīng)集成電路的發(fā)展要求所出現(xiàn)的一種技術(shù)，主要任務(wù)是對電路的結(jié)構(gòu)進(jìn)行調(diào)整，提高電路的可測性，即可控制...
  • 關(guān)鍵字： SOC可測試  
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soc可測試介紹

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