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jtag技術(shù)嵌入式系統(tǒng)電路特性測(cè)
jtag技術(shù)嵌入式系統(tǒng)電路特性測(cè) 文章 進(jìn)入jtag技術(shù)嵌入式系統(tǒng)電路特性測(cè)技術(shù)社區(qū)
滿足嵌入式系統(tǒng)電路特性測(cè)試需求的JTAG技術(shù)
- 引言IEEE1149.1邊界掃描測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)(通常稱為JTAG、1149.1或dot1)是一種用來(lái)進(jìn)行復(fù)雜IC與電路板上的特性測(cè)試的工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)方法,大多數(shù)復(fù)雜電子系統(tǒng)都以這種或那種方式用到了IEEE1149.1(JTAG)標(biāo)準(zhǔn)。為了更好地理解這...
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jtag技術(shù)嵌入式系統(tǒng)電路特性測(cè)介紹
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歡迎您創(chuàng)建該詞條,闡述對(duì)jtag技術(shù)嵌入式系統(tǒng)電路特性測(cè)的理解,并與今后在此搜索jtag技術(shù)嵌入式系統(tǒng)電路特性測(cè)的朋友們分享。 創(chuàng)建詞條
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