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EEPW首頁 >> 主題列表 >> fpga邏輯芯片功能故障測

基于FPGA實(shí)現(xiàn)邏輯芯片的功能故障測試

  • 在最原始的測試過程中，對集成電路（IntegratedCircuit,IC）的測試是依靠有經(jīng)驗(yàn)的測試人員使用信號發(fā)生器、萬用表和示波器等儀器來進(jìn)行測試的。這種測試方法測試效率低，無法實(shí)現(xiàn)大規(guī)模大批量的測試。隨著集成電路的集成度...
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fpga邏輯芯片功能故障測介紹

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