高頻疲勞試驗機文章進入高頻疲勞試驗機技術(shù)社區(qū)

基于FPGA技術(shù)高頻疲勞試驗機控制器的設(shè)計

現(xiàn)場可編程門陣列FPGA（FieldProgrammable Gate Array）是美國Xilinx公司于1984年首先開發(fā)的一種通用型用戶可編程器件。FPGA既具有門陣列器件的高集成度和通用性，又有可編程邏輯器件用戶可編程的靈活性。
關(guān)鍵字：定時器 FPGA 高頻疲勞試驗機單片機控制器

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高頻疲勞試驗機介紹

高頻疲勞試驗機用于進行測定金屬、合金材料及其構(gòu)件（如操作關(guān)節(jié)、固接件、螺旋運動件等）在室溫狀態(tài)下的拉伸、壓縮或拉壓交變負荷的疲勞特性、疲勞壽命、預制裂紋及裂紋擴展試驗。高頻疲勞試驗機在配備相應試驗夾具后，可進行正弦載荷下的三點彎曲試驗、四點彎曲試驗、薄板材拉伸試驗、厚板材拉伸試驗、強化鋼條拉伸試驗、鏈條拉伸試驗、固接件試驗、連桿試驗、扭轉(zhuǎn)疲勞試驗、彎扭復合疲勞試驗、交互彎曲疲勞試驗、CT試驗、C [ 查看詳細 ]

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