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EEPW首頁 >> 主題列表 >> 高速存儲器

高速存儲器的調(diào)試和評估――不要僅僅停留在一致性測試上

  • 引言：DDR4 等存儲技術(shù)的發(fā)展帶動存儲器速度與功率效率空前提升，僅僅停留在一致性測試階段，已經(jīng)不能滿足日益深入的調(diào)試和評估需求。DDR 存儲器的測試項目涵蓋了電氣特性和時序關(guān)系，由JEDEC明確定義，JEDEC 規(guī)范并
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惠瑞捷推出HSM3G 高速存儲器測試解決方案

  • 　　惠瑞捷 (Verigy)推出了全新的 HSM3G 高速存儲器測試解決方案，進(jìn)一步拓展了面向 DDR3世代主流存儲器 IC 和更高級存儲器件測試能力的 V93000 HSM 平臺。V93000 HSM3G 獨特的優(yōu)勢在于其未來的可升級性，能夠為數(shù)據(jù)傳輸速度高達(dá)6.8 Gbps未來的三代 DDR 存儲器提供價格低廉的測試服務(wù)，從而前所未有地長期節(jié)約經(jīng)濟(jì)成本。 　　惠瑞捷 SOC 測試副總裁 Hans-Juergen Wagner 表示：“存儲器制造商一直在尋找一種既能滿足其生產(chǎn)和功能需求又能
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高速存儲器介紹

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