靜默數(shù)據(jù)損壞 文章 最新資訊

如何在AI系統(tǒng)中檢測(cè)和糾正靜默數(shù)據(jù)損壞？

• 靜默數(shù)據(jù)損壞 （SDC），有時(shí)稱(chēng)為位衰減或靜默數(shù)據(jù)錯(cuò)誤 （SDE），是指標(biāo)準(zhǔn)錯(cuò)誤檢查機(jī)制未檢測(cè)到的數(shù)據(jù)錯(cuò)誤，可能導(dǎo)致重大數(shù)據(jù)丟失或計(jì)算錯(cuò)誤。SDC 可能導(dǎo)致訓(xùn)練不準(zhǔn)確、預(yù)測(cè)錯(cuò)誤和性能不可靠。檢測(cè) SDC 需要專(zhuān)門(mén)的技術(shù)和工具。SDC 可以是瞬態(tài)的，也可以是隨機(jī)的。瞬態(tài) SDC 可能是由中微子或 α 粒子等輻射事件引起的。中微子和 α 粒子很難預(yù)測(cè)，更難阻止。幸運(yùn)的是，它們也很罕見(jiàn)，對(duì)數(shù)據(jù)中心和大多數(shù) AI 系統(tǒng)中的 SDC 沒(méi)有顯著貢獻(xiàn)。SDC 更大、更嚴(yán)重的來(lái)源是由 IC 缺陷導(dǎo)致的
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