靜電測試 文章 進入靜電測試技術(shù)社區(qū)
電磁輻射元兇,你用頻點找到的么?
- 在電磁兼容(EMC)實驗中,通過超標頻點推測問題源是常見的方法。不同接口和電路特性往往對應(yīng)特定的頻率特征。以下是常見接口或電路問題對應(yīng)的頻點特性總結(jié):1. USB 接口頻點范圍:60 MHz、120 MHz、240 MHz:與 USB 2.0 的時鐘頻率(480 Mbps 的倍頻)相關(guān)。125 MHz、250 MHz:USB 3.0 超高速信號(5 Gbps)相關(guān)的倍頻。原因可能是:差分信號不平衡,導(dǎo)致共模電磁輻射。屏蔽層連接不良或沒有良好的接地。端接電阻不匹配,導(dǎo)致信號反射。2. 以太網(wǎng)(RJ45 網(wǎng)口
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USB接口的EMC設(shè)計
- 在提到干擾對USB的影響時,差分數(shù)據(jù)傳輸與簡單的同軸電纜相比具有很大的優(yōu)勢。在感性干擾效應(yīng)(磁場)情況下,導(dǎo)線的絞合可以彌補干擾效應(yīng)?!馯SB控制器的輸入/輸出不是完全對稱的,因此USB信號顯示出共模干擾?!馤ayout與HF/EMC不兼容,寄生電容和缺少波阻匹配會產(chǎn)生共模干擾?!耠娐吩O(shè)計(USB濾波器)不充分,濾波器影響信號質(zhì)量,和/或插損太低。●接口設(shè)計(插座,外殼)不充分。不良的接地會減小電纜的屏蔽衰耗。濾波器具有不良的接地參考。●USB電纜不對稱、屏蔽不良以及沒有足夠好的接地。這種電纜會劣化信號質(zhì)
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DCDC導(dǎo)致EMI輻射超標整改案例分享
- 分享一個EMI整改文檔,對于EMC來說,接觸的案例越多,整改的成功率就越高,整改的方法也越多,從案例中吸取教訓(xùn),總結(jié)經(jīng)驗,避免設(shè)計中出現(xiàn)同樣的問題。注意:按照文檔描述,從下面兩張圖片可以看出470MHz和940MHz(二次諧波)左右,這兩個頻點的功率非常高,可能該產(chǎn)品是一款無線產(chǎn)品,對于主頻--有意輻射頻率來說是有豁免權(quán)的,所以只需要注意200MHz之前的頻段,由于頻譜超標帶寬較寬,可以肯定非時鐘、晶振輻射超標引起,幾乎肯定輻射源在電源了,不過最后的結(jié)果,電源部分雖然PASS了,但是后面又引起了其他的頻點
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讓EMC整改,有跡可循
- EMC是一個棘手的問題,下面這個文章一定值得你看,從源頭解決問題才是真正的解決問題。首先看定義,定義主要按照問題性質(zhì),分為電源、時鐘CLK問題、地不平衡問題。再看原因分析:針對三種問題,小編都有舉例分析。先看電源問題:1、排查手段2、問題分析一般電源問題為DC-DC電路器件(DC-DC芯片、電感、二極管)選型問題:一般電源問題為DC-DC PCB部分設(shè)計不合理問題:3、根源再看時鐘問題:解決思路中的傳統(tǒng)方案傳統(tǒng)手段:硬件擴頻:解決思路中的更換方案:地不平衡問題:最后,分析思路:EMC三大規(guī)律規(guī)律一:EMC
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EMC之靜電整改
- 電子產(chǎn)品如手機,智能手表,TWS耳機在認證時往往需要做靜電測試,測試過程出現(xiàn)不可恢復(fù)的故障,或整機復(fù)位重啟。問題詳細描述某智能手表在靜電測試時,打充電輸入端子的接觸±4KV出現(xiàn)系統(tǒng)復(fù)位,甚至概率性卡死,長時間不能恢復(fù)。充電端子在bottom層,板子為四層一階。問題具體分析1、分析如下:經(jīng)過對PCB的研究發(fā)現(xiàn),在充電彈片和正極充電路徑下方的相鄰層信號線過多,沒有完整的地來釋放靜電,并有高速的flash信號經(jīng)過。當靜電打進來時,靜電瞬間干擾到信號走線,靜電管還來不及釋放靜電,導(dǎo)致系統(tǒng)異常。第四層(bottom
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汽車電子與普通電子產(chǎn)品在靜電測試上的差異
- 汽車電子與普通電子產(chǎn)品在靜電測試對比靜電放電是一種自然現(xiàn)象,當兩種不同介電強度的材料相互摩擦時,就會產(chǎn)...
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靜電測試介紹
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