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產(chǎn)生零點(diǎn)漂移的原因及解決措施

產(chǎn)生零點(diǎn)漂移的原因及解決措施-產(chǎn)生零點(diǎn)漂移的原因很多，任何元件參數(shù)的變化（包括電壓源電壓的波動(dòng)），都將造成輸出電壓漂移。實(shí)踐證明，溫度變化是產(chǎn)生零點(diǎn)漂移的主要原因，也是最難克服的因素，這是由于半導(dǎo)體元器件的導(dǎo)電性對(duì)溫度非常敏感，而溫度又很難維持恒定。
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零點(diǎn)漂移產(chǎn)生的原因及常用的抑制方法

　　產(chǎn)生零點(diǎn)漂移的原因很多，任何元件參數(shù)的變化(包括電壓源電壓的波動(dòng))，都將造成輸出電壓漂移。實(shí)踐證明，溫度變化是產(chǎn)生零點(diǎn)漂移的主要原因，也是最難克服的因素，這是由于半導(dǎo)體元器件的導(dǎo)電性對(duì)溫度非常敏感，而溫度又很難維持恒定。　　當(dāng)環(huán)境溫度變化時(shí)，將引起晶體管參數(shù)的變化，從而使放大電路的靜態(tài)工作點(diǎn)發(fā)生變化，而且由于級(jí)間耦合采用直接耦合方式，這種變化將逐級(jí)放大和傳遞，最后導(dǎo)致輸出端的電壓發(fā)生漂移。直接耦合放大電路級(jí)數(shù)愈多，放大倍數(shù)愈大，則零點(diǎn)漂移愈嚴(yán)重，并且在各級(jí)產(chǎn)生的零點(diǎn)漂移中，第一級(jí)產(chǎn)生零點(diǎn)漂移影響最
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抑制零點(diǎn)漂移的3種常用措施

　　產(chǎn)生零點(diǎn)漂移的原因很多，任何元件參數(shù)的變化，都將造成輸出電壓漂移。實(shí)踐證明，溫度變化是產(chǎn)生零點(diǎn)漂移的主要原因，也是最難克服的因素，這是由于半導(dǎo)體元器件的導(dǎo)電性對(duì)溫度非常敏感，而溫度又很難維持恒定。　　　　當(dāng)環(huán)境溫度變化時(shí)，將引起晶體管參數(shù)的變化，從而使放大電路的靜態(tài)工作點(diǎn)發(fā)生變化，而且由于級(jí)間耦合采用直接耦合方式，這種變化將逐級(jí)放大和傳遞，最后導(dǎo)致輸出端的電壓發(fā)生漂移。直接耦合放大電路級(jí)數(shù)愈多，放大倍數(shù)愈大，則零點(diǎn)漂移愈嚴(yán)重，并且在各級(jí)產(chǎn)生的零點(diǎn)漂移中，第一級(jí)產(chǎn)
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流量計(jì)儀表有哪些性能指標(biāo)？

測(cè)量?jī)x表的好壞可通過其準(zhǔn)確度、重現(xiàn)性、靈敏度、響應(yīng)時(shí)間、零點(diǎn)漂移和量程漂移等指標(biāo)來反應(yīng)。（1）準(zhǔn)確度：也稱...
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基于C8051F單片機(jī)的紅外軸溫探測(cè)器零點(diǎn)校正技術(shù)

運(yùn)用Silicon Laboratories公司的 C8051F007單片機(jī)和Analog Device公司的AD620克服紅外信號(hào)采集系統(tǒng)的零點(diǎn)漂移問題，詳細(xì)敘述了設(shè)計(jì)原理，介紹了軟硬件實(shí)現(xiàn)方案。
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零點(diǎn)漂移介紹

　　零點(diǎn)漂移　　零點(diǎn)漂移可描述為：輸入電壓為零，輸出電壓偏離零值的變化。它又被簡(jiǎn)稱為：零漂　　零點(diǎn)漂移是怎樣形成的：運(yùn)算放大器均是采用直接耦合的方式，我們知道直接耦合式放大電路的各級(jí)的Q點(diǎn)是相互影響的，由于各級(jí)的放大作用，第一級(jí)的微弱變化，會(huì)使輸出級(jí)產(chǎn)生很大的變化。當(dāng)輸入短路時(shí)（由于一些原因使輸入級(jí)的Q點(diǎn)發(fā)生微弱變化象：溫度），輸出將隨時(shí)間緩慢變化，這樣就形成了零點(diǎn)漂移。　　產(chǎn) [ 查看詳細(xì) ]

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