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EEPW首頁(yè) >> 主題列表 >> 阻抗測(cè)試

是德科技開發(fā)應(yīng)用ENA網(wǎng)絡(luò)分析儀MIPI D-PHY v1.1接口S參數(shù)和阻抗測(cè)試實(shí)施方法

  • 　　是德科技公司日前宣布，支持發(fā)射機(jī)/接收機(jī)接口S 參數(shù)和阻抗測(cè)試的實(shí)施法(MOI)文件現(xiàn)已發(fā)布。實(shí)施法符合MIPI 聯(lián)盟D-PHY 規(guī)范版本1.1 要求，配有包含狀態(tài)文件的測(cè)試套件(狀態(tài)文件可以簡(jiǎn)化設(shè)置和測(cè)量)，需使用ENA 系列網(wǎng)絡(luò)分析儀的增強(qiáng)時(shí)域分析選件(E5071C-TDR)。 　　   　　現(xiàn)代移動(dòng)設(shè)備需要能夠處理高速數(shù)據(jù)信號(hào)并且接口功耗較低的物理層(PHY)。MIPI D-PHY 是針對(duì)CSI 和DSI 等協(xié)議的高頻、極低功率物理層標(biāo)準(zhǔn)。這些協(xié)議可用于連接移動(dòng)設(shè)備的攝像頭和
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UHF無(wú)源RFID標(biāo)簽芯片阻抗測(cè)試

  • 電子產(chǎn)品世界,為電子工程師提供全面的電子產(chǎn)品信息和行業(yè)解決方案,是電子工程師的技術(shù)中心和交流中心,是電子產(chǎn)品的市場(chǎng)中心,EEPW 20年的品牌歷史,是電子工程師的網(wǎng)絡(luò)家園
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阻抗測(cè)試介紹

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