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基于FPGA的F-RAM防掉電設(shè)計(jì)

  • 摘要 在復(fù)雜實(shí)驗(yàn)條件下,需采用非易失性鐵電存儲器記錄重要數(shù)據(jù)。為防止二次上電時實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)被覆蓋,需設(shè)計(jì)防掉電功能。文中介紹了一種F-RAM的防棹電設(shè)計(jì)思路,并基于現(xiàn)場可編程門陣列實(shí)現(xiàn),板級驗(yàn)證工作正常,并已
  • 關(guān)鍵字: 非易失鐵電存儲器  防掉電  現(xiàn)場可編程門陣列  
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防掉電介紹

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