首頁　 資訊　 商機(jī) 　 下載　 拆解 　 高校　 招聘 　 雜志　 會展　 EETV　 百科 　 問答　 電路圖　 工程師手冊 　 Datasheet　 100例 　 活動中心　 E周刊閱讀 　 樣片申請
EEPW首頁 >> 主題列表 >> 門級

門級 文章 最新資訊

應(yīng)對百萬門級系統(tǒng)級芯片驗證挑戰(zhàn)的可擴(kuò)展解決方案

  • 功能驗證是電子設(shè)計人員目前面臨的主要挑戰(zhàn)，無論是設(shè)計團(tuán)隊還是驗證團(tuán)隊，都將超過50%的時間用在糾錯上，因此這一領(lǐng)域的技術(shù)進(jìn)展將對縮短產(chǎn)品上市時間產(chǎn)生重大影響。本文探討基于斷言的技術(shù)和改進(jìn)的糾錯方法，以及為
  • 關(guān)鍵字： 門級  方案  系統(tǒng)級  芯片驗證    
共1條 1/1 1
關(guān)于我們 - 廣告服務(wù) - 企業(yè)會員服務(wù) - 網(wǎng)站地圖 - 聯(lián)系我們 - 征稿 - 友情鏈接 - 手機(jī)EEPW
Copyright ?2000-2015 ELECTRONIC ENGINEERING & PRODUCT WORLD. All rights reserved.
《電子產(chǎn)品世界》雜志社 版權(quán)所有 北京東曉國際技術(shù)信息咨詢有限公司
備案 京ICP備12027778號-2 北京市公安局備案：1101082052    京公網(wǎng)安備11010802012473