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【技術(shù)交流】LED芯片壽命試驗(yàn)過(guò)程全解析

  • LED具有體積小，耗電量低、長(zhǎng)壽命環(huán)保等優(yōu)點(diǎn)，在實(shí)際生產(chǎn)研發(fā)過(guò)程中，需要通過(guò)壽命試驗(yàn)對(duì)LED芯片的可靠性水平...
  • 關(guān)鍵字： LED  芯片壽命  試驗(yàn)過(guò)程  
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試驗(yàn)過(guò)程介紹

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