芯測 文章 最新資訊
芯測科技提供便捷版內存測試方案EZ-BIST

- 中美貿易戰(zhàn)持續(xù)延燒,引發(fā)后續(xù)波及全球的貿易戰(zhàn)爭,當中更是突顯知識產權合法的重要性。有鑒于此,深耕于開發(fā)內存測試與修復技術的芯測科技(iSTART-Tek,簡稱iSTART)為了協助客戶對知識產權領域規(guī)避嚴重失信的風險,日前推出最新便捷版內存內建式自我測試(MBIST)測試方案「EZ-BIST」,適用于MCU相關的系統(tǒng)芯片開發(fā)商。采用芯測科技(iSTART)所提供低成本且高效率的內存測試開發(fā)工具,可協助客戶快速的開發(fā)產品,避免忽略內存測試的細節(jié)而導致產品良率下降,而其適用的應用如觸控屏、指紋辨識、語音識
- 關鍵字: 芯測 EZ-BIST
共1條 1/1 1 |
芯測介紹
您好,目前還沒有人創(chuàng)建詞條芯測!
歡迎您創(chuàng)建該詞條,闡述對芯測的理解,并與今后在此搜索芯測的朋友們分享。 創(chuàng)建詞條
歡迎您創(chuàng)建該詞條,闡述對芯測的理解,并與今后在此搜索芯測的朋友們分享。 創(chuàng)建詞條