芯測 文章 最新資訊

芯測科技提供便捷版內存測試方案EZ-BIST

• 　　中美貿易戰(zhàn)持續(xù)延燒，引發(fā)后續(xù)波及全球的貿易戰(zhàn)爭，當中更是突顯知識產權合法的重要性。有鑒于此，深耕于開發(fā)內存測試與修復技術的芯測科技(iSTART-Tek，簡稱iSTART)為了協助客戶對知識產權領域規(guī)避嚴重失信的風險，日前推出最新便捷版內存內建式自我測試(MBIST)測試方案「EZ-BIST」，適用于MCU相關的系統(tǒng)芯片開發(fā)商。采用芯測科技(iSTART)所提供低成本且高效率的內存測試開發(fā)工具，可協助客戶快速的開發(fā)產品，避免忽略內存測試的細節(jié)而導致產品良率下降，而其適用的應用如觸控屏、指紋辨識、語音識
• 關鍵字： 芯測  EZ-BIST