耦合測試 文章 進(jìn)入耦合測試技術(shù)社區(qū)
常見的手機(jī)天線測試方法
- 隨著移動通信的飛速發(fā)展和應(yīng)用,中國的手機(jī)行業(yè)也不斷發(fā)展壯大,當(dāng)然中國的手機(jī)用戶也在迅猛增長。而手機(jī)的射頻器件中,手機(jī)天線是無源器件,手機(jī) 天線作為手機(jī)上面唯一的一個“量身定做”的器件,它的特殊性和重要性必然要求其研發(fā)過程對天線性能的測試要求非常嚴(yán)格,這樣才能確保手機(jī)的正常使用?,F(xiàn)在 就簡單的介紹一下手機(jī)天線的研發(fā)過程中的幾種常見的手機(jī)天線測試方法: 1、微波暗室(Anechonic chamber) 波暗室又叫無反射室、吸波暗室簡稱暗室。微波暗室由電磁屏蔽室、濾波與
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耦合測試介紹
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