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EEPW首頁 >> 主題列表 >> 系統(tǒng)級

為IoT設(shè)備的能耗操碎心——論智能設(shè)備的系統(tǒng)級電源管理

  • 　　Jaya Kathuria Bindra? （Cypress公司 嵌入式應(yīng)用事業(yè)部與解決方案開發(fā) 應(yīng)用經(jīng)理）　　Nidhin M S? （Cypress公司 應(yīng)用工程師）　　摘? 要：探討包含外設(shè)和調(diào)節(jié)器在內(nèi)的系統(tǒng)級功耗控制?！　￡P(guān)鍵詞：IoT；能耗；系統(tǒng)級；電源管理　　靈活的?；╣ranular）電源模式，能以低功耗模式工作且獨(dú)立于CPU的專用外設(shè)，以及可編程的模擬和數(shù)字邏輯，有助于優(yōu)化Cypress公司的可編程片上系統(tǒng)（PSoC）的功耗。但在系統(tǒng)級還有更多外設(shè)連接到PSoC，這些外設(shè)不僅會消耗電
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整合系統(tǒng)級和芯片級 恩智浦NXP聯(lián)姻飛思卡爾改變市場格局

  • 從2015年12月7日開始，飛思卡爾半導(dǎo)體品牌正式停止使用，這意味著從今天開始，所有與飛思卡爾相關(guān)的大學(xué)生智能車項(xiàng)目、汽車電子、消費(fèi)電子、工業(yè)乃至網(wǎng)
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系統(tǒng)級語言SystemVerilog和SystemC的融合

  • SystemVerilog和SystemC不久前依然被視為相互排斥的兩種環(huán)境，而現(xiàn)在可以相互協(xié)作，并為實(shí)現(xiàn)設(shè)計(jì)和驗(yàn)證方法提供平滑流暢的系統(tǒng)。
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SystemC與SystemVerilog的比較

  • 就 SystemC 和 SystemVerilog 這兩種語言而言， SystemC 是C++在硬件支持方面的擴(kuò)展，而 SystemVerilog 則繼承了 Verilog，并對 Verilog 在面向?qū)ο蠛万?yàn)證能力方面進(jìn)行了擴(kuò)展。
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ADI欲以一己之力實(shí)現(xiàn)“圍殺”

  • 　　當(dāng)前，對于產(chǎn)品開發(fā)工程師來說，壓力越來越大，主要在于三方面。第一，要面臨產(chǎn)品設(shè)計(jì)跨學(xué)科的壓力，在實(shí)現(xiàn)某些功能時，要求工程師掌握其它學(xué)科（如醫(yī)學(xué)、生物、汽車等）的專業(yè)知識；第二，產(chǎn)品上市時間的壓力；第三，設(shè)計(jì)風(fēng)險管理的壓力，設(shè)計(jì)開發(fā)完成后需要大量的驗(yàn)證工作來保證產(chǎn)品能夠正常運(yùn)行。 　　ADI公司給出了一組數(shù)據(jù)，在中國，ADI信息資源中，參考設(shè)計(jì)的利用率為69%，明顯高于世界其它國家和地區(qū)，應(yīng)用筆記和數(shù)據(jù)手冊的利用率分別為45%和58%，明顯低于世界其它國家和地區(qū)。也就是說，為減緩這三大壓力，解決所面臨
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復(fù)雜的移動終端產(chǎn)品系統(tǒng)級電源管理設(shè)計(jì)方法

  • 引言：要想繼續(xù)保持較長的電池壽命，就必須改善設(shè)備的電源管理設(shè)計(jì)，更加注重如何將多種必要的電源管理功能集...
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LED照明電路和系統(tǒng)級別優(yōu)化分析

  • 半導(dǎo)體廠商也在紛紛涉足LED照明業(yè)務(wù)。LED的電源電路需要驅(qū)動器IC，很多半導(dǎo)體廠商都推出了多樣化產(chǎn)品。在各廠商競相提高驅(qū)動器IC的驅(qū)動能力及效率并實(shí)現(xiàn)更多功能的形勢下，美國國家半導(dǎo)體(National Semiconductor)不
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應(yīng)對百萬門級系統(tǒng)級芯片驗(yàn)證挑戰(zhàn)的可擴(kuò)展解決方案

  • 功能驗(yàn)證是電子設(shè)計(jì)人員目前面臨的主要挑戰(zhàn)，無論是設(shè)計(jì)團(tuán)隊(duì)還是驗(yàn)證團(tuán)隊(duì)，都將超過50%的時間用在糾錯上，因此這一領(lǐng)域的技術(shù)進(jìn)展將對縮短產(chǎn)品上市時間產(chǎn)生重大影響。本文探討基于斷言的技術(shù)和改進(jìn)的糾錯方法，以及為
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解決多總線系統(tǒng)級芯片測試問題的多域方法

  • 多總線IC設(shè)計(jì)的迅速涌現(xiàn)將使測試過程更為復(fù)雜，對于基于多時鐘域和高速總線的復(fù)雜IC設(shè)計(jì)，傳統(tǒng)的ATE方法缺乏必要的多域支持和足夠的性能以確保快速的 測試開發(fā)和高效能。本文提出在測試復(fù)雜的多域IC過程中，可以使用
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SER的傾向和含意 系統(tǒng)級的含意和重要性

  • 軟誤差率(SER)問題是于上個世紀(jì)70年代后期作為一項(xiàng)存儲器數(shù)據(jù)課題而受到人們的廣泛關(guān)注的，當(dāng)時DRAM開始呈現(xiàn)出隨機(jī)故障的征兆。隨著工藝幾何尺寸的不斷縮小，引起失調(diào)所需的臨界電荷的減少速度要比存儲單元中的電荷聚
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淺談芯片(IC)及系統(tǒng)級保護(hù)功能

  • 對于設(shè)計(jì)師而言，在新產(chǎn)品發(fā)布到之前，預(yù)測其現(xiàn)場可靠性是非常困難的。但一旦發(fā)生未預(yù)期的嚴(yán)重現(xiàn)場故障，則說明設(shè)計(jì)師的設(shè)計(jì)是失敗的。然而，即使沒有發(fā)生任何現(xiàn)場故障，仍需要回答以下問題：設(shè)計(jì)師是否對產(chǎn)品進(jìn)行了
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綜合儀器方法解決棘手的系統(tǒng)級測試

  • 當(dāng)今的電子器件和產(chǎn)品在以比以往更快的速度發(fā)展，在許多商業(yè)應(yīng)用中，從設(shè)計(jì)到生產(chǎn)的生命周期縮短到僅有6個月。另外，設(shè)備內(nèi)含和拓?fù)湔龔膯我幌蚨喙δ芷骷D(zhuǎn)化進(jìn)而涉及整個子系統(tǒng)和系統(tǒng)，并常常作為單一方案(例如智能
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適合中國市場的英飛凌車身電子系統(tǒng)級解決方案

  • 隨著汽車市場的激烈競爭，人們對汽車駕乘舒適性和個性化的不斷追求，以往許多只有高級車輛才具有的功能，目前正在加速進(jìn)入中檔乃至低端車輛。而這些功能中絕大部分都與車身電子相關(guān)聯(lián)，包括自動靈巧的車門區(qū)域控制、
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用于系統(tǒng)級芯片集成的各種處理技術(shù)方案評估

  • 帶有多個處理單元的SoC器件目前是產(chǎn)品設(shè)計(jì)鏈上的重要一環(huán)。本文綜合各種因素評估了不同處理單元的優(yōu)缺點(diǎn)，并通過衛(wèi)星無線電接收器的設(shè)計(jì)實(shí)例幫助開發(fā)人員理解SoC所涉及處理任務(wù)之間的復(fù)雜平衡并有效掌握系統(tǒng)功能的劃
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汽車電子的系統(tǒng)級電磁兼容性分析

  • 0引言隨著電子技術(shù)的不斷發(fā)展，新技術(shù)越來越多的應(yīng)用到汽車領(lǐng)域，因此各個電子裝置和電子控制系統(tǒng)必...
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系統(tǒng)級介紹

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