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功率器件熱設(shè)計基礎(chǔ)(六)——瞬態(tài)熱測量

  • / 前言 /功率半導(dǎo)體熱設(shè)計是實現(xiàn)IGBT、碳化硅SiC高功率密度的基礎(chǔ),只有掌握功率半導(dǎo)體的熱設(shè)計基礎(chǔ)知識,才能完成精確熱設(shè)計,提高功率器件的利用率,降低系統(tǒng)成本,并保證系統(tǒng)的可靠性。功率器件熱設(shè)計基礎(chǔ)系列文章會比較系統(tǒng)地講解熱設(shè)計基礎(chǔ)知識,相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)和工程測量方法。確定熱阻抗曲線測量原理——R th /Z th 基礎(chǔ):IEC 60747-9即GB/T 29332半導(dǎo)體器件分立器件第9部分:絕緣柵雙極晶體管(IGBT)(等同采用)中描述了測量的基本原理。確定熱阻抗的
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瞬態(tài)熱測量介紹

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