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EEPW首頁(yè) >> 主題列表 >> 電路測(cè)試

電路測(cè)試主要運(yùn)算放大器參數(shù)

  • 1979 年 1 月，《電子測(cè)試》發(fā)表了一篇文章稱(chēng)，一款單個(gè)測(cè)試電路可ldquo;執(zhí)行對(duì)任何運(yùn)算放大器全面檢查所需的所有標(biāo)準(zhǔn) DC 測(cè)試rdquo;。單個(gè)測(cè)試電
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在電路測(cè)試階段使用無(wú)鉛PCB表面處理工藝的研究

  • 引言：無(wú)鉛PCB的出現(xiàn)對(duì)在電路測(cè)試(ICT)提出了新的問(wèn)題，本文描述了現(xiàn)有的PCB表面處理工藝，并分析了這些工藝對(duì)ICT的影響，指出影響ICT的關(guān)鍵是探針與測(cè)試點(diǎn)間的接觸可靠性，并介紹了為滿(mǎn)足ICT的要求在PCB構(gòu)建過(guò)程中需
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在電路測(cè)試階段使用無(wú)鉛PCB表面處理工藝的研究和建議

  • 引言：無(wú)鉛PCB的出現(xiàn)對(duì)在電路測(cè)試(ICT)提出了新的問(wèn)題，本文描述了現(xiàn)有的PCB表面處理工藝，并分析了這些工藝對(duì)ICT...
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美光科技將擴(kuò)建在西安的電路測(cè)試工廠(chǎng)

  • 　　美光科技(Micron Technology Inc.) 日前宣布擴(kuò)建在西安的電路測(cè)試工廠(chǎng)，其中包括完成二期 40萬(wàn)平方英尺的芯片測(cè)試的模組封裝工廠(chǎng)項(xiàng)目，以滿(mǎn)足其亞洲客戶(hù)不斷增長(zhǎng)的訂單需求，新的工廠(chǎng)將視市場(chǎng)需求情況，在未來(lái)3-5年內(nèi)投入運(yùn)營(yíng)。 　
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基于PXI和GPIB總線(xiàn)電路測(cè)試系統(tǒng)的開(kāi)發(fā)與設(shè)計(jì)

  • 傳統(tǒng)的人工方法檢測(cè)硬件電路的性能存在一系列的問(wèn)題。測(cè)試總線(xiàn)技術(shù)是支撐自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)發(fā)展的核心技術(shù)，該項(xiàng)目借鑒國(guó)內(nèi)外在自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)(ATS)尤其是軍用ATS中的先進(jìn)技術(shù)，針對(duì)該電路性能檢測(cè)的需要，提出基于PXI和GPIB總線(xiàn)的LabVIEW軟件平臺(tái)自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)設(shè)計(jì)方法。對(duì)提高電路測(cè)試效率、可信度和自動(dòng)化水平具有重要意義，解決了工程應(yīng)用的實(shí)際問(wèn)題，是一項(xiàng)成功的ATS應(yīng)用案例。
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電路測(cè)試介紹

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