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EEPW首頁(yè) >> 主題列表 >> 特性測(cè)試儀

數(shù)字控制幅頻特性測(cè)試儀的技術(shù)研究

  • 文章以ARM微處理器為核心，采用直接頻率合成技術(shù)，設(shè)計(jì)了一種低頻高精度的幅頻特性測(cè)試儀。系統(tǒng)以直接數(shù)字頻率合成器AD9851作為掃頻信號(hào)源，用真有效值轉(zhuǎn)換芯片AD637實(shí)現(xiàn)對(duì)被測(cè)網(wǎng)絡(luò)的幅頻特性的測(cè)量，經(jīng)ARM采樣與處理，最后得到被測(cè)網(wǎng)絡(luò)的幅頻特性曲線。實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明，本系統(tǒng)不僅能實(shí)現(xiàn)各種測(cè)試功能，而且測(cè)試頻率能提高到8MHz。因此本系統(tǒng)為現(xiàn)代電子科研實(shí)驗(yàn)室提供了一種高精度和有較高實(shí)用價(jià)值的低頻幅頻特性測(cè)試儀。
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特性測(cè)試儀介紹

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