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TC-08溫度記錄儀在光學(xué)薄膜激光量熱吸收測試的應(yīng)用

  • 摘要：在激光系統(tǒng)中，光學(xué)薄膜的抗激光強(qiáng)度較低，這是光學(xué)薄膜研究中最重要的問題之一。測量光學(xué)薄膜對強(qiáng)激光的熱吸收情況對于光學(xué)薄膜的性能研究具有重大意義，而TC-08是一款可靠靈活的溫度記錄儀。本文介紹了利用TC-08溫度記錄儀“接觸式”地測試光學(xué)薄膜激光量熱吸收的測試，大大地擴(kuò)展了TC-08在光電行業(yè)的應(yīng)用。
  • 關(guān)鍵字： 廣州虹科  光學(xué)薄膜  熱吸收  TC-08溫度記錄儀  溫度測試  
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