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測(cè)量
測(cè)量 文章 最新資訊
血壓計(jì)電子測(cè)量電路設(shè)計(jì)

- 電路如下圖所示,測(cè)量器由聲波采集、電壓放大、低通濾波、波形變換、電壓檢測(cè)、聲光顯示電路組成。元件的選擇:HTD1選用27mm壓電陶瓷片。IC1、IC2選用LM324四運(yùn)放。IC3選用CD4011四與非門,D1選用4.5V穩(wěn)壓管,HTD2選
- 關(guān)鍵字: 電路設(shè)計(jì) 測(cè)量 電子 血壓計(jì)
一種靶場(chǎng)新型遙測(cè)發(fā)射機(jī)的研制

- 遙測(cè)系統(tǒng)是導(dǎo)彈、衛(wèi)星、無人機(jī)等飛行器在試驗(yàn)和運(yùn)行過程中不可缺少的重要支持系統(tǒng),提供飛行器的工作狀態(tài)參數(shù)、環(huán)境參數(shù)和其他載荷的測(cè)量數(shù)據(jù),可為檢驗(yàn)飛行器的性能及故障分析提供依據(jù)。遙測(cè)設(shè)備分為遙測(cè)發(fā)射機(jī)和接收機(jī)兩部分,現(xiàn)有設(shè)備一般通過采用可修改的EEPROM來改變遙測(cè)信號(hào)源和幀結(jié)構(gòu)[1-2],本文提出采用通用計(jì)算機(jī)可視化修改,參數(shù)存儲(chǔ)于系統(tǒng)內(nèi)部的微控制器(MCU)中,使設(shè)備更具標(biāo)準(zhǔn)化和通用性;同時(shí),采用現(xiàn)場(chǎng)可編程門陣列(FPGA)集成實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)緩存、組幀、脈沖編碼調(diào)制(PCM)、數(shù)據(jù)速率連續(xù)可變和FM調(diào)制,使系統(tǒng)
- 關(guān)鍵字: 遙測(cè)系統(tǒng) 測(cè)量 201106
基于PNA網(wǎng)分脈沖信號(hào)的S參數(shù)測(cè)量
- 電子產(chǎn)品世界,為電子工程師提供全面的電子產(chǎn)品信息和行業(yè)解決方案,是電子工程師的技術(shù)中心和交流中心,是電子產(chǎn)品的市場(chǎng)中心,EEPW 20年的品牌歷史,是電子工程師的網(wǎng)絡(luò)家園
- 關(guān)鍵字: PNA 矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀 脈沖信號(hào) S參數(shù) 測(cè)量
測(cè)量并校準(zhǔn)產(chǎn)品的溫度失調(diào)
- 摘要:本應(yīng)用筆記介紹了在測(cè)量芯片外部溫度的情況下,優(yōu)化MAX1358/MAX1359/MAX1360數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)溫度讀數(shù)精度的解決方案。
引言MAX1358/MAX1359/MAX1360數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)內(nèi)置二極管結(jié)溫度傳感器,利用二極管的I-V特性測(cè) - 關(guān)鍵字: 測(cè)量 校準(zhǔn) 產(chǎn)品 溫度失調(diào)
彌合高速數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換器連續(xù)波和調(diào)制信號(hào)測(cè)量之間的差異

- 我們一般使用連續(xù)波 (CW) 信號(hào)來描述高速模數(shù)轉(zhuǎn)換器 (ADC) 和數(shù)模轉(zhuǎn)換器 (DAC)。這樣做的原因是:1)就 ADC 而言,CW 信號(hào)更易于通過 CW 生成器和窄帶通濾波器無噪生成;2)就 DAC 而言,CW 信號(hào)更容易分析;3)它
- 關(guān)鍵字: 信號(hào) 測(cè)量 德州儀器 差異 調(diào)制 連續(xù) 高速 數(shù)據(jù) 轉(zhuǎn)換器 彌合
傳感器檢測(cè)系統(tǒng)的應(yīng)用以及測(cè)量應(yīng)用
- 檢測(cè)系統(tǒng)這一概念是傳感技術(shù)發(fā)展到一定階段的產(chǎn)物。 檢測(cè)系統(tǒng)是傳感器與測(cè)量?jī)x表、變換裝置等的有機(jī)組合?! ≡诠こ虒?shí)際中,需要有傳感器與多臺(tái)測(cè)量?jī)x表有機(jī)地組合起來,構(gòu)成一個(gè)整體,才能完成信號(hào)的檢測(cè),這樣便
- 關(guān)鍵字: 傳感器 測(cè)量 檢測(cè)系統(tǒng)
分析系統(tǒng)優(yōu)化小電流測(cè)量(上)
- I分析系統(tǒng)優(yōu)化小電流測(cè)量- 引言
許多關(guān)鍵應(yīng)用都需要能夠測(cè)量小電流的能力——比如pA級(jí)或更小。這些應(yīng)用包括確定FET的柵極漏流、測(cè)試敏感的納米電子器件,以及測(cè)量絕緣體或電容的漏流。
4200-SCS型半導(dǎo)體 - 關(guān)鍵字: 分析 測(cè)量 系統(tǒng)優(yōu)化 小電流
測(cè)量介紹
測(cè)量的概念
所謂測(cè)量,是指用實(shí)驗(yàn)的方法,將被測(cè)量(未知量)與已知的標(biāo)準(zhǔn)量進(jìn)行比較,以得到被測(cè)量大小的過程;是對(duì)被測(cè)量定量認(rèn)識(shí)的過程。
測(cè)量的定義
1.早期的定義:研究地球的形狀和大小,確定地面點(diǎn)的坐標(biāo)的學(xué)科。
2.當(dāng)前的定義:研究三維空間中各種物體的形狀、大小、位置、方向和其分布的學(xué)科。
測(cè)量學(xué)的內(nèi)容包括測(cè)定和測(cè)設(shè)兩個(gè)部分。測(cè)定是指使用測(cè)量?jī)x器和工具,通過測(cè) [ 查看詳細(xì) ]
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