首頁(yè)　 資訊　 商機(jī) 　 下載　 拆解 　 高校　 招聘 　 雜志　 會(huì)展　 EETV　 百科 　 問(wèn)答　 電路圖　 工程師手冊(cè) 　 Datasheet　 100例 　 活動(dòng)中心　 E周刊閱讀 　 樣片申請(qǐng)
EEPW首頁(yè) >> 主題列表 >> 測(cè)量算法

基于FPGA的高精度相位差測(cè)量算法實(shí)現(xiàn)

  • 摘要：首先介紹了兩種高精度相位差測(cè)量算法，一種是基于直接數(shù)字頻率合成(DDS)的相關(guān)測(cè)量法，另一種是基于快速傅里葉變換(FFT)的FFT測(cè)量法。其次，通過(guò)理論仿真分析兩種算法在不同信噪比和數(shù)據(jù)長(zhǎng)度下的性能，并在此基
  • 關(guān)鍵字： FPGA  高精度  測(cè)量算法  相位差    
共1條 1/1 1

測(cè)量算法介紹

您好，目前還沒(méi)有人創(chuàng)建詞條測(cè)量算法!
歡迎您創(chuàng)建該詞條，闡述對(duì)測(cè)量算法的理解，并與今后在此搜索測(cè)量算法的朋友們分享。    創(chuàng)建詞條

熱門(mén)主題

樹(shù)莓派    linux   
關(guān)于我們 - 廣告服務(wù) - 企業(yè)會(huì)員服務(wù) - 網(wǎng)站地圖 - 聯(lián)系我們 - 征稿 - 友情鏈接 - 手機(jī)EEPW
Copyright ?2000-2015 ELECTRONIC ENGINEERING & PRODUCT WORLD. All rights reserved.
《電子產(chǎn)品世界》雜志社 版權(quán)所有 北京東曉國(guó)際技術(shù)信息咨詢有限公司
備案 京ICP備12027778號(hào)-2 北京市公安局備案：1101082052    京公網(wǎng)安備11010802012473