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測(cè)量
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Windows CE電池驅(qū)動(dòng) 采樣算法的改進(jìn)設(shè)計(jì)
- Windows CE電池驅(qū)動(dòng) 采樣算法的改進(jìn)設(shè)計(jì),
- 關(guān)鍵字： 測(cè)試 測(cè)量 Windows CE 2443 電源
基于I2C總線遙控彩電原理及故障演示裝置的研制
- 關(guān)鍵字： I2C 設(shè)計(jì) 測(cè)量
基于單片機(jī)+CPLD的多路精確延時(shí)控制系統(tǒng)設(shè)計(jì)
- 關(guān)鍵字： 單片機(jī) CPLD 精確延時(shí) 設(shè)計(jì) 測(cè)量
為多路、多信號(hào)的快速掃描測(cè)量構(gòu)建適當(dāng)?shù)臄?shù)據(jù)采集系統(tǒng)
- 電子產(chǎn)品世界,為電子工程師提供全面的電子產(chǎn)品信息和行業(yè)解決方案,是電子工程師的技術(shù)中心和交流中心,是電子產(chǎn)品的市場(chǎng)中心,EEPW 20年的品牌歷史,是電子工程師的網(wǎng)絡(luò)家園
- 關(guān)鍵字： 測(cè)量 信號(hào) 傳感器 轉(zhuǎn)換器
導(dǎo)電材料電阻率的三種經(jīng)典測(cè)量方法
- 測(cè)量導(dǎo)體電阻率的方法是通過(guò)一對(duì)引線強(qiáng)制電流流過(guò)樣品，用另一對(duì)引線測(cè)量其電壓降來(lái)決定已知幾何尺寸的樣品的電阻。雖然，測(cè)量電阻率使用的具體方法決定于樣品的大小和形狀。但是所有的方法都需要使用靈敏的電壓表和電流源或微歐姆計(jì)來(lái)進(jìn)行測(cè)量，因?yàn)橐獪y(cè)量的電阻一般都非常小。 整塊材料（Bulk Material）的電阻率 圖4-46示出測(cè)試整塊材料，如金屬棒或金屬條電阻率的系統(tǒng)。將電流源連到樣品的兩端。電壓表的引線則按已知的距離放置。根據(jù)樣品的橫截面積和電壓表引線之間的距離計(jì)算出電阻率： 其
- 關(guān)鍵字： 半導(dǎo)體 測(cè)量
測(cè)量 介紹
測(cè)量的概念
所謂測(cè)量，是指用實(shí)驗(yàn)的方法，將被測(cè)量（未知量）與已知的標(biāo)準(zhǔn)量進(jìn)行比較，以得到被測(cè)量大小的過(guò)程；是對(duì)被測(cè)量定量認(rèn)識(shí)的過(guò)程。
測(cè)量的定義
1.早期的定義：研究地球的形狀和大小，確定地面點(diǎn)的坐標(biāo)的學(xué)科。
2.當(dāng)前的定義：研究三維空間中各種物體的形狀、大小、位置、方向和其分布的學(xué)科。
測(cè)量學(xué)的內(nèi)容包括測(cè)定和測(cè)設(shè)兩個(gè)部分。測(cè)定是指使用測(cè)量?jī)x器和工具，通過(guò)測(cè) [ 查看詳細(xì) ]
測(cè)量 電路
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