測(cè)量文章進(jìn)入測(cè)量技術(shù)社區(qū)

以STM32為核心控制芯片實(shí)現(xiàn)閘門測(cè)量技術(shù)解析方案

在電子工程、資源勘探、儀器儀表等相關(guān)應(yīng)用中，頻率測(cè)量是電子測(cè)量技術(shù)中最基本最常見的測(cè)量之一，頻率計(jì)也是工程技術(shù)人員必不可少的測(cè)量工具。但是，傳統(tǒng)的頻率測(cè)量方法在實(shí)際應(yīng)用中有較大的局限性，基于傳統(tǒng)測(cè)頻原
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惡性腫瘤早期診斷儀及測(cè)量方法研究

惡性腫瘤早期診斷儀及測(cè)量方法研究,引言惡性腫瘤嚴(yán)重危害著人類的健康，但是對(duì)于早期惡性腫瘤的患者由于沒有明顯的癥狀，所以檢測(cè)相對(duì)而言比較麻煩，人們也逐漸認(rèn)識(shí)到了檢測(cè)的重要性。下面對(duì)一款惡性腫瘤早期測(cè)試儀做下簡(jiǎn)單的介紹。惡性腫瘤電化學(xué)篩查
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RFID標(biāo)簽的測(cè)量方法

標(biāo)簽：RFID 微型芯片在過(guò)去的幾年中，RFID技術(shù)一直在不斷地發(fā)展。RFID已由過(guò)去的某個(gè)特定應(yīng)用，衍變?yōu)橐豁?xiàng)為物流公司所普遍采用的技術(shù)，例如，用于包裹標(biāo)簽或機(jī)場(chǎng)行李標(biāo)簽中加密信息的讀取。IDTechEx的一份市場(chǎng)調(diào)研
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獲得射頻儀器最大功效的最優(yōu)方法

現(xiàn)代射頻儀器具有遠(yuǎn)遠(yuǎn)超過(guò)其前代產(chǎn)品的令人印象深刻的測(cè)量能力和精度。然而，如果不能提供高品質(zhì)的信號(hào)，這些儀器就不能充分發(fā)揮其潛能。完備的測(cè)量方法和注意事項(xiàng)可以保證您能夠充分獲取在射頻儀器上投資的收益。
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運(yùn)算放大器電路固有噪聲的分析與測(cè)量之放大器的內(nèi)

　利用方程式 2 進(jìn)行分析：雙極集電極散粒噪聲　　方程式2給出了一個(gè)雙極晶體管集電極散粒噪聲的關(guān)系。為了更好的理解這種關(guān)系，將其轉(zhuǎn)換成一個(gè)電壓噪聲 Vcn（見圖 7.10）可以說(shuō)是好處多多。如果輸入級(jí)偏置方案為已知
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可測(cè)量不同傳感器脈沖型物位采樣信號(hào)的測(cè)量?jī)x解析方案

1、總體構(gòu)成本測(cè)量?jī)x的信號(hào)采樣通過(guò)P0口的八根輸入線可接受八路經(jīng)過(guò)整形后的標(biāo)準(zhǔn)TTL電平，因此可測(cè)量不同傳感器傳來(lái)的脈沖型物位采樣信號(hào)，只要在原始信號(hào)基礎(chǔ)上加以整形處理即可，每來(lái)一個(gè)脈沖均被P0口捕捉到并可以
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頻譜分析基本原理：快速完成高效率測(cè)量

所有電子設(shè)計(jì)工程師和科學(xué)家都曾執(zhí)行過(guò)電氣訊號(hào)分析，簡(jiǎn)稱訊號(hào)分析。透過(guò)這項(xiàng)基本量測(cè)，他們可洞察訊號(hào)細(xì)節(jié)并獲得重要的訊號(hào)特性資訊。不過(guò)訊號(hào)分析的成效，主要取決于量測(cè)儀器的效能，而頻譜分析儀與向量訊號(hào)分析儀
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基于矢網(wǎng)的脈沖信號(hào)S參數(shù)測(cè)量

傳統(tǒng)上，矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀被用來(lái)測(cè)量組件的連續(xù)波形(CW)S參數(shù)性能。在這些操作環(huán)境下，分析儀常常作為窄帶測(cè)量?jī)x器工作。它向組件傳輸已知的CW頻率并測(cè)量CW頻率響應(yīng)。如果我們想查看單個(gè)CW頻率的響應(yīng)，我們可以在頻率看
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基于場(chǎng)強(qiáng)儀及頻譜分析儀的場(chǎng)強(qiáng)測(cè)量

場(chǎng)強(qiáng)是電場(chǎng)強(qiáng)度的簡(jiǎn)稱，它是天線在空間某點(diǎn)處感應(yīng)電信號(hào)的大小，以表征該點(diǎn)的電場(chǎng)強(qiáng)度。其單位是微伏/米(mu;v/m)，為方便起見，也有用dBmu;v/m(0dB=1mu;v)。一、場(chǎng)強(qiáng)測(cè)量場(chǎng)強(qiáng)的測(cè)量如圖所示。當(dāng)天線在空中與被測(cè)信
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萬(wàn)用表使用技巧：直流工作電壓測(cè)量法

這是一種在通電情況下，用萬(wàn)用表直流電壓擋對(duì)直流供電電壓、外圍元件的工作電壓進(jìn)行測(cè)量;檢測(cè)IC各引腳對(duì)地直流電壓值，并與正常值相比較，進(jìn)而壓縮故障范圍，找出損壞的元件。測(cè)量時(shí)要注意以下八點(diǎn)：(1)萬(wàn)用表要有足
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CirrusCS5480三相電能測(cè)量解決方案

Cirrus公司的CS5480是高精度三相電能測(cè)量模擬前端,每路集成了單獨(dú)的4階Delta-Sigma模數(shù)轉(zhuǎn)換器(ADC),基準(zhǔn)電...
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基于π網(wǎng)絡(luò)零相位法的測(cè)量石英晶體靜電容方案設(shè)計(jì)

1．引言　　在石英晶體的中間測(cè)試中，需要測(cè)量串聯(lián)諧振頻率、串聯(lián)諧振電阻、負(fù)載諧振頻率、負(fù)載諧振電阻、靜電容、動(dòng)電容、頻率牽引靈敏度和DLD等參數(shù)。其中，靜電容C0主要由石英晶體兩端所鍍銀膜決定，表征了石英晶
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觸摸屏控制器性能指標(biāo)信噪比的測(cè)量方案

觸摸屏控制器制造商經(jīng)常拿各種規(guī)格和標(biāo)準(zhǔn)來(lái)使自己的產(chǎn)品與眾不同。其中最常提到的就是信噪比(SNR)。然而，當(dāng)噪聲存在時(shí)，即使數(shù)字上看起來(lái)不錯(cuò)，也并不意味著SNR就是一個(gè)很好的系統(tǒng)性能指標(biāo)。這篇文章將討論什么是信
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使用虛擬儀器降低測(cè)量成本

和大多數(shù)工程師一樣，您大概也曾試圖找到降低自動(dòng)測(cè)試或量測(cè)應(yīng)用系統(tǒng)成本的方法。這份文件將告訴您National Instruments如何幫助工程師達(dá)成這個(gè)任務(wù)。文件開頭將概略分析發(fā)展量測(cè)系統(tǒng)的過(guò)程中主要的五個(gè)成本來(lái)源（請(qǐng)
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優(yōu)化18位、250 KSPS、PULSAR測(cè)量電路的交流性能

電路功能與優(yōu)勢(shì)選擇高性能ADC的配套產(chǎn)品是一項(xiàng)非常具有挑戰(zhàn)性的工作。圖1所示電路是一種用于18位、250 kSPS PulSARreg; ADC的完整前端解決方案，專門針對(duì)交流性能而優(yōu)化。該電路以AD7691為中心，后者是一款PulSAR系
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測(cè)量介紹

　　測(cè)量的概念　　所謂測(cè)量，是指用實(shí)驗(yàn)的方法，將被測(cè)量（未知量）與已知的標(biāo)準(zhǔn)量進(jìn)行比較，以得到被測(cè)量大小的過(guò)程；是對(duì)被測(cè)量定量認(rèn)識(shí)的過(guò)程。　　測(cè)量的定義　　1.早期的定義：研究地球的形狀和大小，確定地面點(diǎn)的坐標(biāo)的學(xué)科。　　2.當(dāng)前的定義：研究三維空間中各種物體的形狀、大小、位置、方向和其分布的學(xué)科。　　測(cè)量學(xué)的內(nèi)容包括測(cè)定和測(cè)設(shè)兩個(gè)部分。測(cè)定是指使用測(cè)量?jī)x器和工具，通過(guò)測(cè) [ 查看詳細(xì) ]