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EEPW首頁 >> 主題列表 >> 測(cè)試系統(tǒng)fpga測(cè)

基于測(cè)試系統(tǒng)的FPGA測(cè)試方法研究

  • 1引言目前FPGA大多采用基于查找表技術(shù)，主要由可編程輸入/輸出單元(IOB)、可編程邏輯單元(CLB)、可編程布線資源(PI)、配置用的SRAM、BlockRAM和數(shù)字延遲鎖相環(huán)(DLL)等部分組成。對(duì)FPGA進(jìn)行測(cè)試要對(duì)FPGA內(nèi)部可能包含的...
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測(cè)試系統(tǒng)fpga測(cè)介紹

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