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EEPW首頁 >> 主題列表 >> 測試測量

基于霍爾傳感器的直流電機轉(zhuǎn)速測量設(shè)計

用頻譜/信號分析限制RF功率和寄生噪聲輻射

PSRR和其它電源噪聲對手機音頻質(zhì)量的影響

關(guān)于UART通信端口上射頻干擾的研究技術(shù)

影響絕緣電阻測量值的主要因素分析與研究

基于DSP與AD9852的任意信號發(fā)生器分析

基于 WiMAX Wave2的雙信道MIMO測量

基于LabVIEW PCI-1712L變壓器測試系統(tǒng)

NIDays 2008全球圖形化系統(tǒng)設(shè)計盛會中國站圓滿落幕

  •   2008年11月——美國國家儀器有限公司(National Instruments,簡稱NI)2008年度 “NIDays全球圖形化系統(tǒng)設(shè)計盛會”中國站于11月18日在上海國際會議中心圓滿落幕。600余位工程師、11家國內(nèi)外知名測試測量企業(yè)以及20多家行業(yè)媒體到會。圍繞“工程師的奧林匹克——綠色應(yīng)用,科技共享”的主題,本次NIDays技術(shù)盛會通過5大專題、18場技術(shù)講座,逾40種案例演繹與新品展示等,向參會
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低失真覆蓋三個十倍頻程同步正弦發(fā)生器

基于PIR傳感器的移動檢測系統(tǒng)的實現(xiàn)研究

LabVIEW并行化技術(shù)來提高測試的吞吐量

安捷倫科技在 LTE 全球峰會展示適用于LTE整個開發(fā)周期的測試解決方案

  •   安捷倫科技公司在 全球峰會(LTE World Summit)上展示了LTE 測試解決方案,并對這個專門設(shè)計的、強大和可擴展的進行演示,展示了在 LTE 用戶設(shè)備開發(fā)周期(從早期協(xié)議開發(fā)到一致性測試)各個環(huán)節(jié)的測試功能。    安捷倫科技副總裁兼安捷倫歐洲、中東地區(qū)和非洲市場銷售總經(jīng)理 Benoit Neel表示,“安捷倫是測量行業(yè)的領(lǐng)導(dǎo)者,可為整個 LTE 開發(fā)周期提供解決方案。我們已經(jīng)開發(fā)了一些率先面市的 LTE 測試產(chǎn)品,確保成功部署 LTE,使之滿足快速上市的目標。&r
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NIDays2008多核技術(shù)下LabVIEW編程

基于示波器作為測試開關(guān)電源測量的平臺研究

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測試測量介紹

電子測試測量儀器:示波器(數(shù)字、模擬、手持式)、信號發(fā)生器(任意波、調(diào)頻調(diào)幅、音頻、射頻)、頻率計、電源、臺式萬用表、頻譜分析儀、毫伏表、微歐   表、鉗表、功率表、LCR、IC測試儀、耐壓/絕緣測試儀……   通信測試測量儀器:光時域反射儀(OTDR)、光纖熔接機、光萬用表、光源、光電話、光功率計、2M測試儀、協(xié)議分析儀、無線電綜合測試儀、數(shù)字電纜分析測試   儀、電纜故障測 [ 查看詳細 ]

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