首頁(yè)　 資訊　 商機(jī) 　 下載　 拆解 　 高校　 招聘 　 雜志　 會(huì)展　 EETV　 百科 　 問(wèn)答　 電路圖　 工程師手冊(cè) 　 Datasheet　 100例 　 活動(dòng)中心　 E周刊閱讀 　 樣片申請(qǐng)
EEPW首頁(yè) >> 主題列表 >> 測(cè)試機(jī)臺(tái)

惠瑞捷發(fā)布業(yè)界首創(chuàng)可擴(kuò)展測(cè)試機(jī)臺(tái)系列

  • 　　Advantest 集團(tuán)旗下企業(yè)惠瑞捷發(fā)布了業(yè)界首創(chuàng)可擴(kuò)展、高性?xún)r(jià)比的測(cè)試機(jī)臺(tái)系列，可用來(lái)測(cè)試28 納米及更小尺寸工藝和 3D 架構(gòu)的芯片。 　　Smart Scale 系列是具備先進(jìn)通道卡功能的創(chuàng)新一代“智能”測(cè)試機(jī)臺(tái)，與惠瑞捷久經(jīng)大生產(chǎn)考驗(yàn)的 V93000 平臺(tái)完全相容。
  • 關(guān)鍵字： 惠瑞捷  測(cè)試機(jī)臺(tái)  
共1條 1/1 1

測(cè)試機(jī)臺(tái)介紹

您好，目前還沒(méi)有人創(chuàng)建詞條測(cè)試機(jī)臺(tái)!
歡迎您創(chuàng)建該詞條，闡述對(duì)測(cè)試機(jī)臺(tái)的理解，并與今后在此搜索測(cè)試機(jī)臺(tái)的朋友們分享。    創(chuàng)建詞條

熱門(mén)主題

樹(shù)莓派    linux   
關(guān)于我們 - 廣告服務(wù) - 企業(yè)會(huì)員服務(wù) - 網(wǎng)站地圖 - 聯(lián)系我們 - 征稿 - 友情鏈接 - 手機(jī)EEPW
Copyright ?2000-2015 ELECTRONIC ENGINEERING & PRODUCT WORLD. All rights reserved.
《電子產(chǎn)品世界》雜志社 版權(quán)所有 北京東曉國(guó)際技術(shù)信息咨詢(xún)有限公司
備案 京ICP備12027778號(hào)-2 北京市公安局備案：1101082052    京公網(wǎng)安備11010802012473