首頁(yè)  資訊  商機(jī)   下載  拆解   高校  招聘   雜志  會(huì)展  EETV  百科   問(wèn)答  電路圖  工程師手冊(cè)   Datasheet  100例   活動(dòng)中心  E周刊閱讀   樣片申請(qǐng)
EEPW首頁(yè) >> 主題列表 >> 測(cè)試內(nèi)核

FPGA系統(tǒng)調(diào)試問(wèn)題及提高調(diào)試效率的方法

  • 本文就調(diào)試FPGA系統(tǒng)時(shí)遇到的問(wèn)題及有助于提高調(diào)試效率的方法,針對(duì)Altera和Xilinx的FPGA調(diào)試提供了最新的方法和工具。
  • 關(guān)鍵字: 邏輯分析儀  測(cè)試內(nèi)核  FPGA  
共1條 1/1 1

測(cè)試內(nèi)核介紹

您好,目前還沒(méi)有人創(chuàng)建詞條測(cè)試內(nèi)核!
歡迎您創(chuàng)建該詞條,闡述對(duì)測(cè)試內(nèi)核的理解,并與今后在此搜索測(cè)試內(nèi)核的朋友們分享。    創(chuàng)建詞條

熱門主題

樹(shù)莓派    linux   
關(guān)于我們 - 廣告服務(wù) - 企業(yè)會(huì)員服務(wù) - 網(wǎng)站地圖 - 聯(lián)系我們 - 征稿 - 友情鏈接 - 手機(jī)EEPW
Copyright ?2000-2015 ELECTRONIC ENGINEERING & PRODUCT WORLD. All rights reserved.
《電子產(chǎn)品世界》雜志社 版權(quán)所有 北京東曉國(guó)際技術(shù)信息咨詢有限公司
備案 京ICP備12027778號(hào)-2 北京市公安局備案:1101082052    京公網(wǎng)安備11010802012473