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正弦信號(hào)
正弦信號(hào) 文章 進(jìn)入正弦信號(hào)技術(shù)社區(qū)
基于FPGA的頻率特性測(cè)試儀的設(shè)計(jì)
- 為設(shè)計(jì)一款便攜式頻率特性測(cè)試儀,該系統(tǒng)以大規(guī)??煽r程邏輯器件為實(shí)現(xiàn)載體,采用了基于FPGA體系結(jié)構(gòu)的集成化設(shè)計(jì)方案,以VHDL為設(shè)計(jì)語(yǔ)言,設(shè)計(jì)了包含掃頻信號(hào)源、測(cè)幅、測(cè)相及顯示等電路,系統(tǒng)經(jīng)峰值檢測(cè)和相位檢測(cè)分別完成了被測(cè)網(wǎng)絡(luò)的幅頻和相頻特性測(cè)量及曲線顯示,經(jīng)調(diào)試功能上能滿足大部分系統(tǒng)要求,對(duì)RC串并聯(lián)電路進(jìn)行測(cè)量誤差為0.4%;該系統(tǒng)具有探作簡(jiǎn)單、成本低廉、性能穩(wěn)定等特點(diǎn),具有較強(qiáng)的實(shí)用價(jià)值與發(fā)展前景。
- 關(guān)鍵字: 頻率特性 現(xiàn)場(chǎng)可編程門(mén)陣列 直接數(shù)字頻率合成DDS 正弦信號(hào)
基于ML2035的簡(jiǎn)易正弦信號(hào)發(fā)生器(05-100)
- 正弦信號(hào)源是一種廣泛應(yīng)用的信號(hào)源,對(duì)它的要求也隨著技術(shù)的發(fā)展越來(lái)越高。傳統(tǒng)的正弦信號(hào)發(fā)生器往往在低頻輸出時(shí)的頻率的穩(wěn)定度和精度等指標(biāo)都不高。為了獲得高頻率穩(wěn)定度的信號(hào)源,往往采用鎖相環(huán)實(shí)現(xiàn),但這種方法電路復(fù)雜、體積龐大。近年來(lái),DDS技術(shù)由于具有容易產(chǎn)生頻率快速轉(zhuǎn)換、分辨率高、相位可控的信號(hào),這在電子測(cè)量、雷達(dá)系統(tǒng)、調(diào)頻通信、電子對(duì)抗等領(lǐng)域得到了十分廣泛的應(yīng)用。然而,如果選用通常的ADI公司的系列DDS芯片研制低頻正弦信號(hào)發(fā)生器,往往需要外部微處理器,因此電路較復(fù)雜,并且頻率穩(wěn)定度不佳。為此,筆者基于
- 關(guān)鍵字: Micro Linear 正弦信號(hào) ML2035
數(shù)字濾波器濾除電子測(cè)量系統(tǒng)中工頻及其諧波干擾的研究
- 摘要:在電子測(cè)量中工頻是主要的噪聲干擾源之一,若不濾除將大大影響測(cè)量精度。窗函數(shù)法即選用一個(gè)長(zhǎng)度為N=M...
- 關(guān)鍵字: 數(shù)字濾波器 主瓣 工頻 諧波污染 測(cè)量系統(tǒng) 諧波干擾 Hz 線性相位 帶通濾波器 正弦信號(hào)
基于LabVIW的光纖水聽(tīng)器閉環(huán)工作點(diǎn)控制系統(tǒng)
- 1 引 言 干涉型光纖水聽(tīng)器由于輸出的相位調(diào)制信號(hào)與外界聲信號(hào)成非線性關(guān)系,而且受溫度變化、壓力波動(dòng)和機(jī)械抖動(dòng)等因素的影響,兩臂相位差會(huì)隨機(jī)漂移,從而引起信號(hào)幅度的隨機(jī)漲落,即相位衰落現(xiàn)象。因此,其信號(hào)檢測(cè)比其它類型的光纖水聽(tīng)器要困難得多。伴隨著光纖水聽(tīng)器技術(shù)近30年的發(fā)展,出現(xiàn)了許多抗相位衰落的信號(hào)檢測(cè)方法[1~9],其中閉環(huán)工作點(diǎn)控制屬于主動(dòng)相位補(bǔ)償?shù)囊环N,具有簡(jiǎn)單、線性度好和抗光源相位噪聲等優(yōu)點(diǎn)[1,6],但是干涉儀中壓電陶瓷(PZT)的引入,大大降低了系統(tǒng)的穩(wěn)定性與可靠性,且操作不方便。
- 關(guān)鍵字: 嵌入式系統(tǒng) 單片機(jī) A/D LabVIW 正弦信號(hào) 測(cè)試工具
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正弦信號(hào)介紹
您好,目前還沒(méi)有人創(chuàng)建詞條正弦信號(hào)!
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