晶片污染 文章 進(jìn)入晶片污染技術(shù)社區(qū)

光電耦合器(OCEP)早期故障的可靠性研究及應(yīng)用

• 通過(guò)對(duì)大量失效光耦分析研究，失效現(xiàn)象集中在早期，問(wèn)題統(tǒng)一。結(jié)合光耦失效樣品的失效現(xiàn)象、失效原理、及失效機(jī)理分析，從金線綁定異常、內(nèi)部殘留金屬異物、漏打膠、晶片污染方面研究光耦的可靠性，發(fā)現(xiàn)主要失效是早期產(chǎn)品加工存在異常缺陷導(dǎo)致，產(chǎn)品在投入使用后短期內(nèi)反饋異常。通過(guò)對(duì)制程的優(yōu)化改進(jìn)，如提升自動(dòng)化制造、檢測(cè)能力，不斷優(yōu)化改進(jìn)制程，提升光耦制造流程可靠性，保證產(chǎn)品可靠性。
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