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EEPW首頁 >> 主題列表 >> 數字測試儀

數字測試儀下的參數測試單元的設計(圖)

  • 本文提出了一種高速度高精度的參數測量單元。該單元應用于數字測試儀,具備16通道選通測試能力和可編程指令集，同時自帶的PID循環(huán)驗證和Kelvin四線連接技術可以有效提高整個模擬參數測量精度，使測量儀在低于50Ω的負載情況下仍能維持不超過千分之一的測試誤差。
  • 關鍵字： 數字測試儀  PID循環(huán)驗證  FPGA  

數字測試儀的各參數測試單元的設計

  • 隨著電子技術的迅速發(fā)展，數字集成電路得到了廣泛的應用，數字芯片已經滲透到各個生產、生活的領域。與之相對應...
  • 關鍵字： 數字測試儀  參數測試單元  
共2條 1/1 1

數字測試儀介紹

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