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EEPW首頁(yè) >> 主題列表 >> 故障植入單元fiu電子測(cè)

使用故障植入單元(FIU)進(jìn)行電子測(cè)試

  • 1.為何需要硬件故障植入？在許多硬件在環(huán)(HIL)試系統(tǒng)中，硬件故障植入用于在電子控制單元(ECU)與系統(tǒng)其他部分之間添加信號(hào)故障，進(jìn)而測(cè)試...
  • 關(guān)鍵字： 故障植入單元FIU電子測(cè)  
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故障植入單元fiu電子測(cè)介紹

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