抗混疊架構(gòu) 文章 進(jìn)入抗混疊架構(gòu)技術(shù)社區(qū)

常見問(wèn)題解答：如何設(shè)計(jì)采用Sallen-Key濾波器的抗混疊架構(gòu)

• 簡(jiǎn)介此KWIK（技術(shù)訣竅與綜合知識(shí)）電路應(yīng)用筆記提供了解決特定設(shè)計(jì)挑戰(zhàn)的分步指南。對(duì)于給定的一組應(yīng)用電路要求，本文說(shuō)明了如何利用通用公式應(yīng)對(duì)這些要求，并使它們輕松擴(kuò)展到其他類似的應(yīng)用規(guī)格。 在任何采樣系統(tǒng)中，例如涉及ADC的測(cè)量系統(tǒng)中，有一種稱為混疊的現(xiàn)象，它可能導(dǎo)致處于較高頻帶的信號(hào)“向下折疊”到奈奎斯特頻帶，使其與目標(biāo)信號(hào)無(wú)法區(qū)分。奈奎斯特頻率是采樣速率fs的一半。由ADC采樣的電路帶寬應(yīng)小于采樣速率的一半。混疊會(huì)導(dǎo)致干擾信號(hào)和噪聲污染輸出，從而影響測(cè)量精度。圖1和圖2分別顯示了正確采樣（高采樣速率）
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