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實例分享！BMS采樣板針對低頻磁場抗擾測試解決方案

• 通常汽車零部件受到的磁場干擾可以分為內(nèi)部或外部干擾源干擾，其中內(nèi)部干擾源包括汽車的電動馬達、制動器等；而外部干擾源包括功率傳輸線、充電站等。低頻磁場抗擾測試 MFI 的方法是將 DUT 暴露在干擾磁場中進行測試。輻射環(huán)可以產(chǎn)生干擾磁場，還可以用于小型 DUT 測試，或者采用多點放置的方法來測試大型 DUT。本文由ADI代理商駿龍科技工程師Ai Wei為大家介紹一種 BMS 采樣板針對低頻磁場抗擾測試的解決方案。MFI 測試設(shè)置低頻磁場抗擾 MFI 測試布置如下圖 (圖1) 所示，DUT 的每個面都要劃分成
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