抖動（jitter）測量 文章 最新資訊
Aeroflex推出新型全面3920數(shù)字射頻綜合測試儀
- 用于模擬系統(tǒng)、TETRA 及P25 技術的新型 3920 數(shù)字射頻綜合測試儀具有全新的增強特性，可為專業(yè)測試人員提供集成化的更多測試功能，便捷的遠程遙控操作以及功能強大的文件管理功能。 Aeroflex 3900 系列的新一代產(chǎn)品3920 將取代原有的 3901 及 3902 射頻測試儀。在具備更多新特性與新功能的同時，3920 仍可支持先前3901 及 3902 所能夠執(zhí)行的全部測試功能，其中包括 TETRA 移動臺、基站及直通模式測試。 3920可選裝的三位半數(shù)字萬用表能夠測量交流與
- 關鍵字： 測試 測量 Aeroflex 3920數(shù)字射頻綜合測試儀 測試測量
吉時利發(fā)布基于LINUX的參數(shù)測試系統(tǒng)
- 美國吉時利（Keithley）儀器公司日前發(fā)布關于其S600系列參數(shù)測試系統(tǒng)的一組升級功能。其最主要升級是在每套測試系統(tǒng)中的嵌入式控制電腦上移植Linux操作系統(tǒng)（OS）。本項升級為其控制電腦提供更穩(wěn)定的OS和更長的服務壽命，減少了用戶升級新工作站和軟硬件資源的開銷。此外，此次固件升級相比原來基于UNIX的系統(tǒng)具有更高的測試產(chǎn)能。新軟件授權（license）方法采用USB棒作為每套測試器的硬件鑰匙，通過在不同工作站間的遷移縮短維護時間。 吉時利推出的該款采用Linux控制器的參數(shù)測試系統(tǒng)迎合了當
- 關鍵字： 測試 測量 LINUX 吉時利 測試測量
安捷倫發(fā)布 U2000 系列基于USB的功率傳感器
- 安捷倫科技最新發(fā)布的 Agilent U2000 系列基于USB的功率傳感器，與典型功率計和類似的功率探測解決方案相比，重量更輕，并有更高的性價比。由于使用這種功率傳感器進行測量可不需要功率計或額外的硬件模塊，因此能節(jié)省工作臺空間，也使現(xiàn)場測試工作更簡單、更容易。 U2000系列功率傳感器可與各種 Agilent 信號源、頻譜分析儀和網(wǎng)絡分析儀配合使用，從而使這些儀器具有更精確的平均功率測試能力。除了USB設備即插即用的連通性所提供的簡便、快速的設置外，U2000系列功率傳感器還通過與組合眾多功
- 關鍵字： 測試 測量 安捷倫 U2000 功率傳感器 測試測量
科利登發(fā)布D-6432DFT測試解決方案
- 科利登系統(tǒng)有限公司推出業(yè)界性價比最高、性能最為出眾的解決方案Sapphire D-6432DFT，用于測試新興的高速計算和消費應用中所使用的微處理器、游戲及圖形器件。該設備的推出再次強化了科利登市場領先的Sapphire測試平臺。 Sapphire D-6432DFT設備是首款用于高速串行總線的集成測試解決方案，在一次插入中結合了高速環(huán)路測試、抖動測量和注入信號，以及掃描/功能性測試和DC參數(shù)測量。D-6432DFT的密度比同類產(chǎn)品高出4倍，可為制造商提供突破性的可測性設計（DFT）方法，助其顯
- 關鍵字： 測試 測量 科利登 D-6432DFT 測試測量
基于計算機的機床測試系統(tǒng)
- 在工業(yè)生產(chǎn)測試過程中，經(jīng)常要對溫度、流量、壓力等模擬量進行采集，對繼電器、接觸器等開關量進行控制，此外還有步進電機和伺服電機進行精確的位移控制。開發(fā)一種基于計算機的機床測試系統(tǒng)，把各種控制量集成在一起構成閉環(huán)控制系統(tǒng)很有必要。本文以一臺計算機為主控制器，采用Windows風格接口軟件，計算和測試速度快，信息處理能力強，系統(tǒng)集成度高，工作界面友好，操作方便，實現(xiàn)了多參數(shù)測試過程自動化，提高了測試效率和準確性。 系統(tǒng)主要功能及特點 系統(tǒng)以對機床性能影響大的參數(shù)集成測試為主要目的，具有以下功能
- 關鍵字： 測試 測量 機床測試 嵌入式系統(tǒng) 單片機 測試測量
基于AD8302芯片的新的幅相測量系統(tǒng)
- 引 言 傳統(tǒng)的幅度、相位差、阻抗測量需要采用多個中小規(guī)模集成電路，不僅電路復雜，測量精度低，而且適用的頻率范圍窄，只能測量低頻或中頻信號。本文介紹利用美國ADI公司最近推出的AD8302芯片測量RF／IF幅度和相位差并計算阻抗。此芯片是測量幅度、相位差的首款單片集成電路，可廣泛用于GSM(全球移動通信系統(tǒng))，電力系統(tǒng)的阻波器、結合濾波器等領域。 1 AD8302性能特點 AD8302內(nèi)含兩個精密匹配寬帶對數(shù)檢波器、一個相位檢波器、輸出放大器組、一個偏置單元和一個輸出參考電壓緩沖器等，能同時
- 關鍵字： AD8302 幅相測量 測試 測量 測試測量
KLA-Tencor 發(fā)布最新 HRP-350系統(tǒng)
- KLA-Tencor 發(fā)布高分辨率表面輪廓測量系統(tǒng) HRP-350，使測量能力擴展至 45 納米半導體器件。這個新設備配備半徑低至 20 納米的鉆石探針和低噪音平臺，從而提高了測量靈敏度，并使芯片生產(chǎn)商能夠監(jiān)控極其細微的橫向和縱向尺寸。除這些突破之外，該系統(tǒng)還擁有更高的掃描速度，因而能在多種關鍵性晶體管和互連應用中提升系統(tǒng)生產(chǎn)能力。 “隨著半導體器件的更新?lián)Q代，在重要的蝕刻和化學機械拋光工藝中，形貌控制要求也越發(fā)嚴格。我們的客戶需要一
- 關鍵字： 消費電子 測試 測量 HRP-350 測試測量 消費電子
意法半導體便攜設備用雙軸模擬加速計尺寸緊湊、節(jié)能降耗
- 意法半導體宣布該公司的超小型“低g”線性加速計產(chǎn)品家族增加一個新的解決方案，新產(chǎn)品LIS244AL動作傳感器在電路板占據(jù)一個面積很小的呈正方形位置，功耗極低，特別適合電池供電的便攜應用，如手機、便攜多媒體播放器或遙控器。 新的加速計在一個單封裝內(nèi)集成了一個可靠的雙軸MEMS加速計傳感器和一個CMOS接口芯片，該接口芯片提供兩個同步實時模擬輸出：一個是側(cè)向（橫向）運動輸出信號，另一個是前后（縱向）運動輸出信號。 新產(chǎn)品LIS244AL能夠在極低的噪聲下提供加速數(shù)值，需要
- 關鍵字： 消費電子 意法半導體 雙軸模擬加速計 測試 測量 測試測量 消費電子
基于磁盤陣列的全數(shù)字遙測記錄系統(tǒng)的設計
- 引 言 我國遙測記錄設備經(jīng)歷了倍密度磁帶機和旋轉(zhuǎn)頭磁帶機兩代產(chǎn)品，目前仍在使用。從記錄原理上說他們皆屬于模擬記錄設備，在長期使用當中，已暴露出諸多缺陷： (1)磁帶耗材依賴進口，價格昂貴且記錄容量小、重復使用率低、數(shù)據(jù)保存時間短。 (2)磁頭和機械運帶機構屬精密加工器件，調(diào)校過程相當復雜，長期使用磨損嚴重，記錄性能顯著惡化，給設備維護帶來極大不便。 隨著計算機硬盤制造技術的飛速發(fā)展和數(shù)字存儲技術的問世及不斷應用，采用大容量高速硬盤記錄模擬遙測信號的數(shù)字化
- 關鍵字： 消費電子 測試 測量 磁盤陣列 數(shù)字遙測 測試測量 消費電子
ST便攜設備用雙軸模擬加速計尺寸緊湊節(jié)能降耗
- 意法半導體宣布該公司的超小型“低g”線性加速計產(chǎn)品家族增加一個新的解決方案，新產(chǎn)品LIS244AL動作傳感器在電路板占據(jù)一個面積很小的呈正方形位置，功耗極低，特別適合電池供電的便攜應用，如手機、便攜多媒體播放器或遙控器。 新的加速計在一個單封裝內(nèi)集成了一個可靠的雙軸MEMS加速計傳感器和一個CMOS接口芯片，該接口芯片提供兩個同步實時模擬輸出：一個是側(cè)向（橫向）運動輸出信號，另一個是前后（縱向）運動輸出信號。 新產(chǎn)品LIS244AL能夠在極低的噪聲下提供加速數(shù)值，需要的功耗非常低，這在電池供電的便
- 關鍵字： 模擬技術 電源技術 ST 雙軸模擬加速計 測試 測量 測試測量
基于FPGA系統(tǒng)易測試性的研究
- 引 言 現(xiàn)代科技對系統(tǒng)的可靠性提出了更高的要求，而FPGA技術在電子系統(tǒng)中應用已經(jīng)非常廣泛，因此FPGA易測試性就變得很重要。要獲得的FPGA內(nèi)部信號十分有限、FPGA封裝和印刷電路板(PCB)電氣噪聲，這一切使得設計調(diào)試和檢驗變成設計中最困難的一個流程。另一方面，當前幾乎所有的像CPU、DSP、ASIC等高速芯片的總線，除了提供高速并行總線接口外，正迅速向高速串行接口的方向發(fā)展，F(xiàn)PGA也不例外。每一條物理鏈路的速度從600 Mbps到10 Gbps，高速I／O的測試和驗證更成為傳統(tǒng)專注于FPG
- 關鍵字： 嵌入式系統(tǒng) 單片機 測試 測量 FPGA 測試測量
高端封裝產(chǎn)能壟斷 明確目標把握細分市場
- 中國半導體行業(yè)協(xié)會封裝分會統(tǒng)計數(shù)據(jù)顯示，2006年我國集成電路封裝測試業(yè)共實現(xiàn)銷售額496億元，同比增長44%，在產(chǎn)業(yè)鏈中的比重達到50.8%，是近幾年增長最快的一年，首次出現(xiàn)銷售收入過百億元的集成電路制造企業(yè)。中國半導體行業(yè)協(xié)會副理事長、中國半導體行業(yè)協(xié)會封裝分會理事長畢克允強調(diào)，近年來，我國封裝測試業(yè)自主創(chuàng)新工作取得了新的進展，一批骨干企業(yè)自主研發(fā)了FBP、MCM、CBGA等新型封裝技術。但是，不可否認，我國封裝測試產(chǎn)業(yè)整體水平與國際水平相比仍有很大差距，隨著市場
- 關鍵字： 消費電子 測試 測量 封裝 市場 封裝 消費電子
KLA-Tencor 發(fā)布高分辨率表面輪廓測量系統(tǒng) HRP-350
- KLA-Tencor日前發(fā)布業(yè)界最先進的高分辨率表面輪廓測量系統(tǒng) HRP-350，使測量能力擴展至 45 納米半導體器件。這個新設備配備半徑低至 20 納米的鉆石探針和低噪音平臺，從而提高了測量靈敏度，并使芯片生產(chǎn)商能夠監(jiān)控極其細微的橫向和縱向尺寸。除這些突破之外，該系統(tǒng)還擁有更高的掃描速度，因而能在多種關鍵性晶體管和互連應用中提升系統(tǒng)生產(chǎn)能力。 “隨著半導體器件的更新?lián)Q代，在重要的蝕刻和化學機械拋光工藝中，形貌控制要求也越發(fā)嚴格。我們的客戶需要一種單一系統(tǒng)解決方案，既可支持影響良率的納米級應
- 關鍵字： 測試 測量 KLA-Tencor 表面輪廓測量系統(tǒng) HRP-350 測試測量
抖動（jitter）測量介紹
您好，目前還沒有人創(chuàng)建詞條抖動（jitter）測量!
歡迎您創(chuàng)建該詞條，闡述對抖動（jitter）測量的理解，并與今后在此搜索抖動（jitter）測量的朋友們分享。 創(chuàng)建詞條
歡迎您創(chuàng)建該詞條，闡述對抖動（jitter）測量的理解，并與今后在此搜索抖動（jitter）測量的朋友們分享。 創(chuàng)建詞條
抖動（jitter）測量電路
抖動（jitter）測量相關帖子
抖動（jitter）測量資料下載
抖動（jitter）測量專欄文章
關于我們 -
廣告服務 -
企業(yè)會員服務 -
網(wǎng)站地圖 -
聯(lián)系我們 -
征稿 -
友情鏈接 -
手機EEPW
Copyright ?2000-2015 ELECTRONIC ENGINEERING & PRODUCT WORLD. All rights reserved.
《電子產(chǎn)品世界》雜志社 版權所有 北京東曉國際技術信息咨詢有限公司
京ICP備12027778號-2 北京市公安局備案：1101082052 京公網(wǎng)安備11010802012473
Copyright ?2000-2015 ELECTRONIC ENGINEERING & PRODUCT WORLD. All rights reserved.
《電子產(chǎn)品世界》雜志社 版權所有 北京東曉國際技術信息咨詢有限公司
京ICP備12027778號-2 北京市公安局備案：1101082052 京公網(wǎng)安備11010802012473