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EEPW首頁(yè) >> 主題列表 >> 掃描測(cè)試

混合掃描測(cè)試解決方案的優(yōu)勢(shì)

  • 掃描測(cè)試是測(cè)試集成電路的標(biāo)準(zhǔn)方法。絕大部分集成電路生產(chǎn)測(cè)試是基于利用掃描邏輯的 ATPG(自動(dòng)測(cè)試向量生成)。掃描 ATPG 是一項(xiàng)成熟的技術(shù)，特點(diǎn)是結(jié)果的可預(yù)測(cè)性高并且效果不錯(cuò)。它還能實(shí)現(xiàn)精確的缺陷診斷，有助于
  • 關(guān)鍵字： 掃描測(cè)試    IC測(cè)試    ATPG  
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掃描測(cè)試介紹

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