首頁  資訊  商機   下載  拆解   高校  招聘   雜志  會展  EETV  百科   問答  電路圖  工程師手冊   Datasheet  100例   活動中心  E周刊閱讀   樣片申請
EEPW首頁 >> 主題列表 >> 嵌入式軟件開發(fā)測試軟件缺

嵌入式軟件開發(fā)測試軟件缺 文章 進入嵌入式軟件開發(fā)測試軟件缺技術(shù)社區(qū)

通過測試避免嵌入式軟件缺陷

  • 當表達一個要求時,商務人員的期望是實現(xiàn)只要能夠正常工作。但對于最終產(chǎn)品是否真正按料想的方式工作,在商務或軟件歷史上就幾乎沒有達成過一致意見。從工程角度看,與性能、可靠性、安全性等相關(guān)的任何問題如果不能滿足要...
  • 關(guān)鍵字: 嵌入式軟件開發(fā)測試軟件缺  
共1條 1/1 1

嵌入式軟件開發(fā)測試軟件缺介紹

您好,目前還沒有人創(chuàng)建詞條嵌入式軟件開發(fā)測試軟件缺!
歡迎您創(chuàng)建該詞條,闡述對嵌入式軟件開發(fā)測試軟件缺的理解,并與今后在此搜索嵌入式軟件開發(fā)測試軟件缺的朋友們分享。    創(chuàng)建詞條

熱門主題

樹莓派    linux   
關(guān)于我們 - 廣告服務 - 企業(yè)會員服務 - 網(wǎng)站地圖 - 聯(lián)系我們 - 征稿 - 友情鏈接 - 手機EEPW
Copyright ?2000-2015 ELECTRONIC ENGINEERING & PRODUCT WORLD. All rights reserved.
《電子產(chǎn)品世界》雜志社 版權(quán)所有 北京東曉國際技術(shù)信息咨詢有限公司
備案 京ICP備12027778號-2 北京市公安局備案:1101082052    京公網(wǎng)安備11010802012473