首頁　 資訊　 商機 　 下載　 拆解 　 高校　 招聘 　 雜志　 會展　 EETV　 百科 　 問答　 電路圖　 工程師手冊 　 Datasheet　 100例 　 活動中心　 E周刊閱讀 　 樣片申請
EEPW首頁 >> 主題列表 >> 容錯測試

高速PCI信號采集卡設(shè)計與實現(xiàn)綜合實例之：產(chǎn)品穩(wěn)定性和可靠性測試

  • 完成一個產(chǎn)品的設(shè)計后和初步調(diào)試后，就可以對產(chǎn)品進(jìn)行完整的測試流程。一般來說，對產(chǎn)品需要進(jìn)行下面一些測試，通過測試后才能對產(chǎn)品的穩(wěn)定性和可靠性得出一個結(jié)論。
  • 關(guān)鍵字： 高速PCI信號采集卡  容錯測試  容限測試  FPGA  
共1條 1/1 1

容錯測試介紹

您好，目前還沒有人創(chuàng)建詞條容錯測試!
歡迎您創(chuàng)建該詞條，闡述對容錯測試的理解，并與今后在此搜索容錯測試的朋友們分享。    創(chuàng)建詞條

熱門主題

樹莓派    linux   
關(guān)于我們 - 廣告服務(wù) - 企業(yè)會員服務(wù) - 網(wǎng)站地圖 - 聯(lián)系我們 - 征稿 - 友情鏈接 - 手機EEPW
Copyright ?2000-2015 ELECTRONIC ENGINEERING & PRODUCT WORLD. All rights reserved.
《電子產(chǎn)品世界》雜志社 版權(quán)所有 北京東曉國際技術(shù)信息咨詢有限公司
備案 京ICP備12027778號-2 北京市公安局備案：1101082052    京公網(wǎng)安備11010802012473