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EEPW首頁(yè) >> 主題列表 >> 存儲(chǔ)器數(shù)據(jù)

淺析存儲(chǔ)器數(shù)據(jù)的軟誤差率(SER)問題

  • 軟誤差率(SER)問題是于上個(gè)世紀(jì)70年代后期作為一項(xiàng)存儲(chǔ)器數(shù)據(jù)課題而受到人們的廣泛關(guān)注的，當(dāng)時(shí)DRAM開始呈現(xiàn)出隨機(jī)故障的征兆。隨著工藝幾何尺寸的不斷縮小，引起失調(diào)所需的臨界電荷的減少速度要比存儲(chǔ)單元中的電荷聚
  • 關(guān)鍵字： SER  存儲(chǔ)器數(shù)據(jù)  軟誤差    

AT24系列存儲(chǔ)器數(shù)據(jù)串并轉(zhuǎn)換接口的IP核設(shè)計(jì)

  • 介紹用VHDL語(yǔ)言設(shè)計(jì)該存儲(chǔ)器數(shù)據(jù)串并轉(zhuǎn)換接口的IP核，從而通過(guò)硬件（FPGA或其他可編程芯片）實(shí)現(xiàn)AT24系列存儲(chǔ)器與8位微處理器之間的并行通信。
  • 關(guān)鍵字： AT  24  存儲(chǔ)器數(shù)據(jù)  串并轉(zhuǎn)換    
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存儲(chǔ)器數(shù)據(jù)介紹

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