首頁　 資訊　 商機 　 下載　 拆解 　 高校　 招聘 　 雜志　 會展　 EETV　 百科 　 問答　 電路圖　 工程師手冊 　 Datasheet　 100例 　 活動中心　 E周刊閱讀 　 樣片申請
EEPW首頁 >> 主題列表 >> 均勻損耗

NAND Flash上均勻損耗與掉電恢復在線測試

  • 　　摘要 NAND Flash以其大容量、低價格等優(yōu)勢迅速成為嵌入式系統(tǒng)存儲的新寵，因此其上的文件系統(tǒng)研究也日益廣泛，本文簡要介紹了常用的NAND Flash文件系統(tǒng)YAFFS，并針對YAFFS在均勻損耗和掉電恢復方面進行在線測試。在給出測試結果的同時，著重研究嵌入式軟件測試方案和方法;對測試結果進行分析，并提出改進方案和適用環(huán)境。 　　關鍵詞 NAND Flash 均勻損耗 軟件測試 YAFFS 　　引 言 　　隨著嵌入式技術在各種電子產(chǎn)品中的廣泛應用，嵌入式系統(tǒng)中的數(shù)據(jù)存儲和管理已經(jīng)成為一個重要
  • 關鍵字： NAND Flash 均勻損耗 軟件測試 YAFFS  
共1條 1/1 1

均勻損耗介紹

您好，目前還沒有人創(chuàng)建詞條均勻損耗!
歡迎您創(chuàng)建該詞條，闡述對均勻損耗的理解，并與今后在此搜索均勻損耗的朋友們分享。    創(chuàng)建詞條

熱門主題

樹莓派    linux   
關于我們 - 廣告服務 - 企業(yè)會員服務 - 網(wǎng)站地圖 - 聯(lián)系我們 - 征稿 - 友情鏈接 - 手機EEPW
Copyright ?2000-2015 ELECTRONIC ENGINEERING & PRODUCT WORLD. All rights reserved.
《電子產(chǎn)品世界》雜志社 版權所有 北京東曉國際技術信息咨詢有限公司
備案 京ICP備12027778號-2 北京市公安局備案：1101082052    京公網(wǎng)安備11010802012473