半導(dǎo)體測(cè)試系統(tǒng) 文章 進(jìn)入半導(dǎo)體測(cè)試系統(tǒng)技術(shù)社區(qū)

泰瑞達(dá)交付第8,000臺(tái) J750半導(dǎo)體測(cè)試系統(tǒng)

• 全球先進(jìn)的自動(dòng)測(cè)試設(shè)備供應(yīng)商泰瑞達(dá)近日宣布，與獨(dú)立第三方集成電路測(cè)試服務(wù)企業(yè)偉測(cè)科技共同達(dá)成一項(xiàng)里程碑式結(jié)果，暨順利交付第 8,000 臺(tái) J750 半導(dǎo)體測(cè)試平臺(tái)。泰瑞達(dá) J750 測(cè)試機(jī)包括晶圓分類和封裝測(cè)試解決方案，適用于微控制器單元、無線設(shè)備、圖像傳感器等，已在全球各大半導(dǎo)體芯片制造商工廠中廣泛部署。J750 測(cè)試機(jī)在質(zhì)量、上市時(shí)間和成本效益方面占據(jù)行業(yè)領(lǐng)先優(yōu)勢(shì)，有助于提高產(chǎn)能、增加工位數(shù)，減少單工位測(cè)試時(shí)長(zhǎng)，并優(yōu)化并行測(cè)試效率。偉測(cè)科技致力于為中國(guó)及海外的先進(jìn)無晶圓廠集成電路設(shè)計(jì)公司提供測(cè)試服務(wù)
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