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EEPW首頁 >> 主題列表 >> 功能測(cè)試

空調(diào)電器盒功能測(cè)試對(duì)壓縮機(jī)配件的替換研究

  • 空調(diào)外機(jī)電器盒部件功能測(cè)試時(shí)，需要匹配對(duì)應(yīng)的負(fù)載配件觀察運(yùn)行狀態(tài)，如壓縮機(jī)、四通閥、外風(fēng)機(jī)等。其中壓縮機(jī)本身較昂貴且笨重，不方便管理。根據(jù)家用常見壓縮機(jī)的結(jié)構(gòu)特點(diǎn)，可以采用一種特制的電機(jī)來替換壓縮機(jī)負(fù)載的方案來滿足測(cè)試，以減少空間、節(jié)約成本。
  • 關(guān)鍵字： 電器盒  壓縮機(jī)  功能測(cè)試  電機(jī)  202101  

控制器測(cè)試工裝放電技術(shù)

  • 耿本利，陳中煒，程? 磊，張秀鳳 （格力電器（合肥）有限公司，安徽?合肥??230088）摘? 要：控制器是空調(diào)的大腦，在整機(jī)運(yùn)行上起著至關(guān)重要的作用?？刂破鞯馁|(zhì)量直接決定了空調(diào)的使用壽 命?？刂破髟谏a(chǎn)時(shí)需模擬整機(jī)運(yùn)行狀態(tài)進(jìn)行功能測(cè)試，測(cè)試主板上各模塊電路能否正常工作，在此基礎(chǔ)上增 加放電電路，不僅可提前篩選出功能異常的電路板，同時(shí)能保障測(cè)試工裝電壓不對(duì)主板進(jìn)行損害，最終提高整 機(jī)的可靠性，降低售后投訴，提高公司品牌質(zhì)量。 關(guān)鍵詞：控制器；功能測(cè)試；放電電路；可靠性0  引言&nbs
  • 關(guān)鍵字： 202003  控制器  功能測(cè)試  放電電路  可靠性  

高密度印刷線路板的功能測(cè)試

  • 功能測(cè)試正變得越來越重要，然而與在線測(cè)試一樣，技術(shù)的發(fā)展和PCB設(shè)計(jì)會(huì)使測(cè)試范圍受到限制。盡管在編程的軟件環(huán)境方面已取得了很大的進(jìn)展，有助于克服其中一些困難，但若想按照你的測(cè)試策略成功實(shí)施功能測(cè)試，還有很
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IC卡功能測(cè)試與產(chǎn)業(yè)化測(cè)試不可偏廢

  • 　　2011年3月15日，中國(guó)人民銀行發(fā)布《中國(guó)人民銀行關(guān)于推進(jìn)金融IC卡應(yīng)用工作的意見》，決定在全國(guó)范圍內(nèi)正式啟動(dòng)銀行卡芯片化遷移工作(既EMV遷移)。EMV遷移是近年來我國(guó)順應(yīng)國(guó)際銀行卡發(fā)展趨勢(shì)，立足國(guó)情，在改善金融，服務(wù)民生，提升電子支付風(fēng)險(xiǎn)防范水平，推動(dòng)銀行卡產(chǎn)業(yè)升級(jí)方面實(shí)施的一項(xiàng)重要戰(zhàn)略舉措。中國(guó)人民銀行將推廣金融IC卡行業(yè)應(yīng)用作為重大發(fā)展戰(zhàn)略，有計(jì)劃、有步驟地組織銀行業(yè)開展EMV遷移?！笆濉逼陂g將加快銀行卡芯片化進(jìn)程，全面推進(jìn)金融IC卡應(yīng)用，以促進(jìn)中國(guó)銀行卡的產(chǎn)業(yè)升
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嵌入式軟件三大潛在問題及其測(cè)試技術(shù)

  • 本文將介紹如何避免那些隱蔽然而常見的錯(cuò)誤，并介紹的幾個(gè)技巧幫助工程師發(fā)現(xiàn)軟件中隱藏的錯(cuò)誤。大部分軟件開...
  • 關(guān)鍵字： 堆棧溢出  軟件開發(fā)  功能測(cè)試  

基于PXI模塊化儀器和LabVIEW軟件 開發(fā)二次監(jiān)視雷達(dá)自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)

基于GPIB/VXI/IEEE1394總線的板級(jí)電路功能測(cè)試和故障診斷自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)

  • 隨著現(xiàn)代科學(xué)技術(shù)的發(fā)展，測(cè)試技術(shù)對(duì)電子裝備發(fā)展的支撐作用越來越突出，測(cè)試保障裝備建設(shè)已受到前所未有的重視。為保證實(shí)際應(yīng)用時(shí)集成度越來越高的電子設(shè)備能有效、可靠的工作，得出較精確的數(shù)據(jù)，就需要一種高效率
  • 關(guān)鍵字： 診斷  自動(dòng)化  測(cè)試系統(tǒng)  故障  功能測(cè)試  GPIB/VXI/IEEE1394  

一種掛式空調(diào)器控制板的自動(dòng)功能測(cè)試儀介紹

  • 目前國(guó)內(nèi)外相關(guān)廠家的在線測(cè)試已經(jīng)做得相對(duì)成熟了，軟硬件配套設(shè)施先進(jìn)且大多實(shí)現(xiàn)國(guó)產(chǎn)化，其在線測(cè)試的自動(dòng)化程度與國(guó)外相比估計(jì)已經(jīng)相差無幾。盡管如此，功能測(cè)試的自動(dòng)化進(jìn)程卻一直進(jìn)展相當(dāng)緩慢。雖然國(guó)內(nèi)也有不少
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TD-SCDMA系統(tǒng)基于網(wǎng)元仿真的OMC功能測(cè)試

  • 0、引言隨著TD-SCDMA技術(shù)的不斷進(jìn)步和完善，備受關(guān)注的TD-SCDMA外場(chǎng)測(cè)試也已經(jīng)全面展開，現(xiàn)已順利通過了空載測(cè)試、負(fù)載測(cè)試，即將進(jìn)入第3階段的測(cè)試。與此同時(shí)，設(shè)備提供商紛紛加快了通信網(wǎng)絡(luò)管理軟件的研發(fā)和測(cè)試的
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開關(guān)電源常規(guī)功能測(cè)試分析

pcb設(shè)計(jì)邏輯芯片功能測(cè)試

  • pcb設(shè)計(jì)邏輯芯片功能測(cè)試用于保證被測(cè)器件能夠正確完成其預(yù)期的功能。為了達(dá)到這個(gè)目的，必須先創(chuàng)建測(cè)試向量或者真值表，才能進(jìn)檢測(cè)代測(cè)器件的錯(cuò)誤。一個(gè)真值表檢測(cè)錯(cuò)誤的能力有一個(gè)統(tǒng)一的標(biāo)準(zhǔn)，被稱作故障覆蓋率。測(cè)
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半導(dǎo)體功能測(cè)試基礎(chǔ)術(shù)語

  • 半導(dǎo)體功能測(cè)試包含一些新的術(shù)語，這里先簡(jiǎn)單介紹一下：Output Mask 輸出屏蔽，一種在功能測(cè)試期間讓測(cè)試通道的輸出比較功能打開或關(guān)閉的方法，可以針對(duì)單獨(dú)的pin在單獨(dú)的周期實(shí)施。Output Sampling 輸出采樣，在功能
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一種掛式空調(diào)器用控制板自動(dòng)功能測(cè)試儀介紹

  • 目前國(guó)內(nèi)外相關(guān)廠家的在線測(cè)試已經(jīng)做得相對(duì)成熟了，軟硬件配套設(shè)施先進(jìn)且大多實(shí)現(xiàn)國(guó)產(chǎn)化，其在線測(cè)試的自動(dòng)化程度與國(guó)外相比估計(jì)已經(jīng)相差無幾。盡管如此，功能測(cè)試的自動(dòng)化進(jìn)程卻一直進(jìn)展相當(dāng)緩慢。雖然國(guó)內(nèi)也有不少
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LED顏色及亮度測(cè)試方案

一種大型軟件測(cè)試方法

  • 電子產(chǎn)品世界,為電子工程師提供全面的電子產(chǎn)品信息和行業(yè)解決方案,是電子工程師的技術(shù)中心和交流中心,是電子產(chǎn)品的市場(chǎng)中心,EEPW 20年的品牌歷史,是電子工程師的網(wǎng)絡(luò)家園
  • 關(guān)鍵字： 功能測(cè)試  性能測(cè)試  軟件測(cè)試  
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功能測(cè)試介紹

黑盒測(cè)試（Black-box Testing，又稱為功能測(cè)試或數(shù)據(jù)驅(qū)動(dòng)測(cè)試）是把測(cè)試對(duì)象看作一個(gè)黑盒子。利用黑盒測(cè)試法進(jìn)行動(dòng)態(tài)測(cè)試時(shí)，需要測(cè)試軟件產(chǎn)品的功能，不需測(cè)試軟件產(chǎn)品的內(nèi)部結(jié)構(gòu)和處理過程。 采用黑盒技術(shù)設(shè)計(jì)測(cè)試用例的方法有：等價(jià)類劃分、邊界值分析、錯(cuò)誤推測(cè)、因果圖和綜合策略。 黑盒測(cè)試注重于測(cè)試軟件的功能性需求，也即黑盒測(cè)試使軟件工程師派生出執(zhí)行程序所有 [ 查看詳細(xì) ]

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