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分立電阻器檢定測試系統(tǒng)熱電動 文章 最新資訊

分立電阻器檢定測試系統(tǒng)的常見誤差來源——熱電動勢

  • 熱電動勢當電路中的不同金屬處于不同溫度時，會形成熱電動勢(EMF)或電壓。為了消除這些不必要的電壓帶來的影響，使用偏置補償電阻測量方法
  • 關鍵字： 分立電阻器檢定測試系統(tǒng)熱電動  
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分立電阻器檢定測試系統(tǒng)熱電動介紹

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