- 1 、失效模式：
產(chǎn)品中相同結(jié)構(gòu)手插件 LED 的失效位號隨機(jī)分布，失效比例高的 LED 集中在近離 PCB 板面的 LED 。 LED 的結(jié)構(gòu)參考 figure 1 。
2 、失效機(jī)理：
組裝時的機(jī)械應(yīng)力導(dǎo)致 LED 引腳移
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分析 圖解 失效 應(yīng)力 機(jī)械 LED
- 便攜式超聲設(shè)備及SHARC 2147x處理器的應(yīng)用分析,浮點(diǎn)數(shù)字信號處理已成為精密技術(shù)的一貫需求，航空、工業(yè)機(jī)器和醫(yī)療保健等領(lǐng)域要求較高精度的應(yīng)用通常都有這個需求。醫(yī)療超聲設(shè)備是目前在用的最復(fù)雜的信號處理機(jī)器之一，并且逐漸向便攜式領(lǐng)域擴(kuò)展。其面臨的挑戰(zhàn)在于
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處理器 應(yīng)用 分析 2147x SHARC 超聲 設(shè)備及 便攜式
- 幅度分離電路 典型的幅度分離電路如圖8 - 2所示。它是由一只晶體管和電容C、 電阻RB、 RC構(gòu)成。輸入信號是檢波后的視頻全電視信號, 通常峰峰值在2V左右。輸出的信號是復(fù)合同步信號, 為簡單起見, 圖中只畫出了行同步
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原理 分析 工作 電路 分離 幅度
- IC智能卡作為信息時代的新型高技術(shù)存儲產(chǎn)品，具有容量大、保密性強(qiáng)以及攜帶方便等優(yōu)點(diǎn)，被廣泛應(yīng)用于社會生活的各個領(lǐng)域。通常所說的IC卡，是把含有非揮發(fā)存儲單元NVM或集成有微控制器MCU等的IC芯片嵌裝于塑料基片而
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分析 機(jī)理 失效 智能卡 IC
- 1 引言
目前通信領(lǐng)域正處于急速發(fā)展階段，由于新的需 求層出不窮，促使新的業(yè)務(wù)不斷產(chǎn)生，因而導(dǎo)致頻率資源越來越緊張。在有限的帶寬里要傳輸大量的多媒體數(shù)據(jù)，提高頻譜利用率成為當(dāng)前至關(guān)重要的課題，否則將
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原理 分析 解調(diào) 調(diào)制 相位 QAM 連續(xù)
- 一、地的分類工程師在設(shè)計電路時，為防止各種電路在電路正常工作中產(chǎn)生互相干擾，使之能相互兼容地有效工作。根據(jù)電路的性質(zhì)，將電路中“零電位”———“地”分為不同的種類，比
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電路設(shè)計 分析
- 分析基于ADI的心電監(jiān)護(hù)儀綜合系統(tǒng)的設(shè)計原理,如果單獨(dú)的做ECG監(jiān)護(hù)儀的話，采用ADI的這個方案，無疑是比較合理的。但我們公司的產(chǎn)品是多參數(shù)的醫(yī)療監(jiān)護(hù)儀，可以監(jiān)測ECG，人體呼吸，導(dǎo)聯(lián)脫落檢測，血壓，血氧等五項(xiàng)生理參數(shù)。ECG測量部分的方塊圖如下所示：人體呼
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ADI 分析 心電監(jiān)護(hù)儀 系統(tǒng)
- 摘要：DMF5005N是日本東芝公司生產(chǎn)的點(diǎn)陣式圖形液晶顯示模塊。它具有體積小、重量輕、低電壓、低功耗等特點(diǎn)。文中介紹了它的整體結(jié)構(gòu)，并對控制器T6963C、行和列驅(qū)動器T6A40和T6A39的工作原理和功能進(jìn)行了詳細(xì)地分析
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電路 分析 模塊 液晶顯示 點(diǎn)陣 圖形 DMF5005N
- 各國電信運(yùn)營商都在積極推進(jìn)和建設(shè)FTTx網(wǎng)絡(luò)。在FTTx網(wǎng)絡(luò)的應(yīng)用過程中，也帶來了接入層網(wǎng)絡(luò)和接入層設(shè)備供電的變革，并引發(fā)了業(yè)界對FTTx終端設(shè)備后備供電保障的思考和大討論。1. FTTx帶給接入層網(wǎng)絡(luò)的變革1.1 接入層網(wǎng)
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保障 分析 供電 后備 終端設(shè)備 FTTx
- PEMFC氫能發(fā)電機(jī)發(fā)出的是變化范圍較大的直流電，必須經(jīng)過穩(wěn)壓、逆變等轉(zhuǎn)換后，獲得穩(wěn)定的輸出電壓后才能應(yīng)用于負(fù)載。在PEMFC發(fā)電機(jī)的控制系統(tǒng)電源采用自發(fā)電供電時，電源系統(tǒng)需要適應(yīng)發(fā)電機(jī)的輸出特性。控制系統(tǒng)正常
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設(shè)計 分析 電源 控制系統(tǒng) PEMFC 基于
- LED燈具有節(jié)能、環(huán)保的優(yōu)勢，在燈具產(chǎn)業(yè)的發(fā)展已成為主要趨勢。由于LED所使用的技術(shù)及產(chǎn)品屬性已與傳統(tǒng)燈具大不相同，因此現(xiàn)行的一般燈具安全標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范顯然已不適用.那么LED燈具有哪些技術(shù)及特性呢？我們將和你一起解
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LED 分析 燈具 安規(guī)要求
- 1 概述隨著現(xiàn)代通信設(shè)備的迅速發(fā)展,特別是微電子技術(shù)的發(fā)展,伴隨著各種電源的發(fā)展,各種各樣的 PWM型直流變換器集成控制器也不斷出現(xiàn),這使開關(guān)穩(wěn)壓電源的元件數(shù)量大幅度減少。這不但使開關(guān)穩(wěn)壓電源的可靠性提高,而且還
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分析 芯片 PWM 控制器 電源
- Feist解釋說，上一代FPGA設(shè)計套件采用單維基于時序的布局布線引擎，通過模擬退火算法隨機(jī)確定工具應(yīng)在什么地方布置邏輯單元。使用這類工具時，用戶先輸入時序，模擬退火算法根據(jù)時序先從隨機(jī)初始布局種子開始，然后在
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多維 布局 分析
- 引言目前，在嵌入式處理器芯片中，以ARM7為核心的處理器是應(yīng)用較多的一種。它具有多種工作模式，并且支持兩種不同的指令集（標(biāo)準(zhǔn)32位ARM指令集和16位Thumb指令集）。mu;C／OSII是專為嵌入式應(yīng)用設(shè)計的搶占式、多任務(wù)
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優(yōu)化 方法 分析 過程 ARM7 中斷 C/OSII
- :EL檢測儀，又稱太陽能組件電致發(fā)光缺陷檢測儀，是跟據(jù)硅材料的電致發(fā)光原理對組件進(jìn)行缺陷檢測及生產(chǎn)工藝監(jiān)控的專用測試設(shè)備。給晶體硅電池組件正向通入1-1.5倍Isc的電流后硅片會發(fā)出1000-1100nm的紅外光，測試儀下
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缺陷 分析 EL 組件 電池 晶體
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