首頁　 資訊　 商機(jī) 　 下載　 拆解 　 高校　 招聘 　 雜志　 會展　 EETV　 百科 　 問答　 電路圖　 工程師手冊 　 Datasheet　 100例 　 活動中心　 E周刊閱讀 　 樣片申請
EEPW首頁 >> 主題列表 >> 分層測試

基于分層測試的Virtex系列FPGA互聯(lián)資源測試新方法

  • 以基于靜態(tài)隨機(jī)存儲器(SRAM)的現(xiàn)場可編程門陣列(FPGA)為例，在傳統(tǒng)的三次測試方法的基礎(chǔ)上提出了一種新穎的針對FPGA互聯(lián)資源的測試方法。該方法運(yùn)用了層次化的思想，根據(jù)開關(guān)矩陣中可編程互聯(lián)點(diǎn)(PIP)兩端連線資源的區(qū)別將互聯(lián)資源進(jìn)行層次化分類，使得以這種方式劃分的不同類別的互聯(lián)資源能夠按一定方式進(jìn)行疊加測試，這就從根本上減少了實(shí)際需要的測試配置圖形和最小配置次數(shù)。
  • 關(guān)鍵字： 互聯(lián)資源  分層測試  FPGA  
共1條 1/1 1

分層測試介紹

您好，目前還沒有人創(chuàng)建詞條分層測試!
歡迎您創(chuàng)建該詞條，闡述對分層測試的理解，并與今后在此搜索分層測試的朋友們分享。    創(chuàng)建詞條

熱門主題

樹莓派    linux   
關(guān)于我們 - 廣告服務(wù) - 企業(yè)會員服務(wù) - 網(wǎng)站地圖 - 聯(lián)系我們 - 征稿 - 友情鏈接 - 手機(jī)EEPW
Copyright ?2000-2015 ELECTRONIC ENGINEERING & PRODUCT WORLD. All rights reserved.
《電子產(chǎn)品世界》雜志社 版權(quán)所有 北京東曉國際技術(shù)信息咨詢有限公司
備案 京ICP備12027778號-2 北京市公安局備案：1101082052    京公網(wǎng)安備11010802012473