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EEPW首頁 >> 主題列表 >> 元器件國產(chǎn)化

廣電計量:失效分析推動元器件國產(chǎn)化進程

  • 失效分析是一門發(fā)展中的新興學(xué)科,近年才開始普及。它一般根據(jù)失效模式和現(xiàn)象,通過分析和驗證,模擬重現(xiàn)失效的現(xiàn)象,找出失效的原因,挖掘出失效的機理的活動。在提高產(chǎn)品質(zhì)量,技術(shù)開發(fā)、改進,產(chǎn)品修復(fù)及仲裁失效事故等方面具有很強的實際意義。廣電計量致力于針對產(chǎn)品設(shè)計、研制、使用、維修/維護全壽命周期中出現(xiàn)的失效產(chǎn)品,為客戶提供高效快速的原材料、電子元器件、PCB、PCBA失效分析/故障根因分析和改進提升技術(shù)服務(wù)。2019年9月4日,由工信部、上海市政府指導(dǎo),中國半導(dǎo)體行業(yè)協(xié)會、中國電子信息產(chǎn)業(yè)發(fā)展研究院主辦的第二屆
  • 關(guān)鍵字： 失效分析，元器件國產(chǎn)化  
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元器件國產(chǎn)化介紹

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