低漏電流測試 文章 進入低漏電流測試技術(shù)社區(qū)
英國Pickering公司發(fā)布新款開關(guān)保護模塊,面向半導(dǎo)體參數(shù)測試中的低漏電流測試
- 英國Pickering公司作為用于電子測試和驗證的模塊化信號切換和仿真解決方案的領(lǐng)先供應(yīng)商,于近日推出新型低漏電流開關(guān)解決方案,面向半導(dǎo)體測試,如WAT晶圓驗收測試中的低電流驅(qū)動保護測量。新款產(chǎn)品基于開關(guān)隨動保護層(switched guard)設(shè)計原理,提供PXI, PXIe和LXI版本,整體設(shè)計確保隔離電阻高達1013Ω。該產(chǎn)品系列包括三個系列,提供各種開關(guān)拓撲結(jié)構(gòu)。PXI模塊40-121系列提供兩種SPST通用開關(guān)配置(13或26個)或2:1(8或16組)多路復(fù)用開關(guān)。PXI模塊40-590系列和P
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低漏電流測試介紹
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