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位失效圖 文章 最新資訊

SOC芯片設計與測試

  • 　　摘要：SOC已經成為集成電路設計的主流。SOC測試變得越來越復雜，在設計時必須考慮DFT和DFM。本文以一SOC單芯片系統(tǒng)為例，在其設計、測試和可制造性等方面進行研究，并詳細介紹了SOC測試解決方案及設計考慮。 關鍵詞：單芯片系統(tǒng)；面向測試設計；面向制造設計；位失效圖；自動測試設備     引言     以往的系統(tǒng)設計是將CPU，DSP，PLL，ADC，DAC或Memory等電路設計成IC后，再加以組合變成完整的系統(tǒng)，但現今的設計方式是
  • 關鍵字： SOC  單芯片系統(tǒng)  面向測試設計  面向制造設計  位失效圖  自動測試設備  
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