科學技術的發(fā)展離不開測試測量技術，測試測量技術是產品質量的重要保證。隨著被測試系統(tǒng)、產品的發(fā)展水平日趨提高——速度越來越快、體積越來越小、應用覆蓋范圍越來越廣，人們對測試測量技術的要求也越來越高，促使測試測量技術和測量儀器不斷出現(xiàn)新理論、新技術和新方法。
會議議題 實時頻譜測量技術、虛擬儀器在測試系統(tǒng)中的應用、電磁兼容(EMC/EMI)測量、射頻和微波測量、汽車電子與測試、嵌入式測試、高速串行數(shù)據(jù)測試、自動測試設備、通信網絡測試、先進IC測試技術、復雜調制度信號測量、航空電子/GPS測試、PXI與數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)的建立、測試測量技術的發(fā)展趨勢和方向。
會議日程
時 間 |
演講題目 |
演 講 人 |
09:00-09:30 |
報道，收取名片或調查表準備下午抽獎活動 |
09:30-09:35 |
開幕致詞 |
EEPW主編 王瑩 |
09:35-10:20 |
黑鳥及下一代測試總線LXI |
Aglient 航空航天及國防業(yè)務市場項目經理 邢國元 |
10:25-11:10 |
雷達信號測試方案及儀器應用 |
羅德與施瓦茨中國有限公司
產品經理 陳峰 |
11:15-12:00 |
共同構建
下一代國防設計系統(tǒng)的測試平臺 |
Tektronix設計與制造測試儀器產品部航天航空及國防應用銷售經理 周文昊
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12:00-13:00 |
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13:00-13:45 |
航天和軍工測試技術的挑戰(zhàn) |
北京航天測控技術公司
總經理 奚全生 |
13:50-14:35 |
NI產品在現(xiàn)代航空航天和軍工
測試應用上的解決方案 |
美國國家儀器公司
中國區(qū)域銷售經理 高向東 |
14:40-15:25 |
迎接測試測量世界新挑戰(zhàn) |
北京普源精電科技有限公司
國內銷售部副總經理 李藝 |
15:30-15:40 |
國內測試測量行業(yè)的現(xiàn)狀 |
中國電子儀器行業(yè)協(xié)會秘書長徐春齡 |
15:45-16:15 |
測試測量行業(yè)的“十一五”規(guī)劃 |
國家“十一五” 規(guī)劃電子儀器組組長
中國工程院院士 張鐘華 |
| 16:20-16:30 |
抽獎（三臺精美MP3播放器），活動結束 |
注：此活動日程為暫定，以會議當日公布的為準
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聯(lián)系方式
北京
聯(lián)系人：王煒
《電子產品世界》雜志社會展部
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HONG KONG
Jorge Moo Lew
Alegra International Limited
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............................................................................................................................................... 本次研討會免費參加,參會人員必須提前注冊，可選擇網上注冊或電話注冊；若沒有提前注冊不能領取會議資料也不能參加抽獎活動。
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